[发明专利]质量分析数据解析装置及程序有效
| 申请号: | 200680004434.2 | 申请日: | 2006-04-27 |
| 公开(公告)号: | CN101115991A | 公开(公告)日: | 2008-01-30 |
| 发明(设计)人: | 山内一夫;山本善丈;梅村佳克 | 申请(专利权)人: | 株式会社岛津制作所 |
| 主分类号: | G01N27/62 | 分类号: | G01N27/62 |
| 代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 | 代理人: | 李贵亮 |
| 地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 质量 分析 数据 解析 装置 程序 | ||
1.一种质量分析数据解析装置,通过对质量分析所取得的质谱数据进行解析,来判定该质谱中的各离子峰值的价数以及同定单一同位素峰值,
该质量分析数据解析装置具备:
(a)质心数据作成部件,根据作为所述质谱数据所取得的分布数据来作成质心数据;和
(b)数据解析部件,根据所述质心数据上峰值的出现模式来检测出质谱上的同位素群,根据其结果对该同位素群所属的峰值的价数进行判定以及对该同位素群的单一同位素峰值进行同定。
2.根据权利要求1所述的质量分析数据解析装置,其特征在于,
所述数据解析部件还具备:
(c)基准峰值指定部件,将所述质心数据上的峰值从强度大的峰值起顺次指定为用于同定同位素群的基准峰值;
(d)模式匹配部件,将在所述基准峰值的前后排列的峰值的出现模式与规定的价数范围中的同位素群的峰值出现模式进行比较;
(e)同位素群同定部件,当所述模式匹配部件所完成的比较结果为所述基准峰值和其前后排列的峰值的出现模式与所述同位素群的出现模式一致时,对含有该基准峰值的同位素群的价数进行决定以及对该同位素群所属的峰值进行决定;
(f)峰值价数判定部件,将由所述同位素群同定部件所决定的同位素群的价数决定为该同位素群所属的峰值的价数;和
(g)单一同位素峰值同定部件,将该同位素群中质量电荷比最小的峰值作为单一同位素峰值。
3.根据权利要求2所述的质量分析数据解析装置,其特征在于,
所述同位素群同定部件在决定同位素群所属的峰值之际,利用针对已匹配的峰值的相对强度作为所述基准峰值或该同位素所属的峰值,并且对该同位素群所属的各峰值候补进行选择。
4.一种程序,使计算机作为权利要求1~3中任一项所述的质量分析数据解析装置发挥功能。
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