[发明专利]用于选择最佳写入参数的方法和装置以及供所述方法和装置使用的光学记录媒质

说明书

技术领域

本发明涉及一种用于设定光学记录装置中使用的写入参数最佳值的方法，该光学记录装置利用辐射光束在光学记录媒质上写入信息。本发明还涉及一种用于在光学记录媒质上记录信息的光学记录装置，该装置包括辐射光源，用于发射具有可控的、用于在记录媒质上记录信息的写入功率电平的值的辐射光束。此外，本发明涉及一种光学记录媒质，通过利用辐射光束照射该记录媒质来记录信息，该记录媒质包括包含表示将信息记录到所述记录媒质上的记录过程的控制信息的区域。

在光学记录装置中，重要的是利用正确功率的辐射光束在光学记录媒质上记录信息，该辐射光束例如激光束。尽管媒质制造商能够以绝对的方式给出所述的正确功率(例如预先记录在光盘上)，但是对于每种记录媒质和记录装置的组合而言，环境之间的差异以及装置与装置之间的差异，使得要想获得可靠的光学记录必须找到所讨论的记录媒质所依赖的正确功率。本领域公知的几种用于此目的的优化功率控制(OPC)例程，例如伽马OPC(通常用于可再写入媒质，例如CR-RW和DVD+/-RW)、贝它OPC(通常用于可记录媒质，例如CD-R和DVD+/-R)以及卡巴OPC(例如用于BD-RE/R媒质)。

背景技术

在WO02/41306中，描述了通过在光学记录媒质上写入一系列测试图案，从而由这些图案形成读取信号并且处理该读取信号来设定光学记录装置中辐射光束的最佳写入功率的方法，该专利在本申请中引入作为参考并且视为本申请的一部分。这种处理包括针对由读取信号获得的参数拟合函数，优选是直线，而不必实施微分步骤。可以由该读取信号获得的一种这样的参数是调制(M)。曲线拟合过程需要一个或多个功率值来定义实施拟合的时间间隔。如果该曲线拟合产生了写入参数的第一值，该值出于某些原因不符合最佳写入参数标准，例如在预设值范围之外，WO02/41306公开了可以采取的多种可能的测量方法。其中一种是重复过程，其中将所述写入参数的所述第一值用于定义实施拟合的第二时间间隔。随后可以将所生成的第二写入参数评价为最佳写入参数，例如相对于预设范围。如果该第二写入参数不符合最佳写入参数标准，则继续重复，直到达到某个预设条件为止。

然而，光学记录装置与光学记录媒质的某些组合固有的问题在于在获得最佳写入参数之前可能需要较大量的这种重复步骤。因此，就会延迟记录过程，造成使用者不舒服。此外，在光学记录装置与光学记录媒质的某些不好的组合中，重复也可能不会得到最佳写入参数。对于这些情况而言，该光学记录装置将不能在记录媒质上记录，从而导致故障。

因此，经改进的光学记录装置是有利的，尤其是更有效和/或可靠的光学记录装置将更有利。

相应地，本发明优选寻求单独地或者任意组合地减轻或消除上述缺点中的一个或多个。尤其是，可以看作本发明的目的是提供一种用于在光学媒质上进行光学记录时获得写入参数最佳值来解决了上述现有技术问题的方法。由所述写入参数最佳值可以获得写入功率电平(P)的最佳值(P_opt)。

发明内容

在本发明的第一个方面中，提供了一种用于设定光学记录装置中使用的写入参数最佳值的方法，从而实现了上述目的和一些其它目的，该光学记录装置利用辐射光束在光学记录媒质上写入信息，所述方法包括以下步骤：

1)在记录媒质上写入一系列测试图案，每个图案以不同的辐射光束写入功率电平(P)值写入，

2)读取图案从而形成相应的读取信号部分(18、19)，

3)由每个读取信号部分获得读取参数值，

4)针对读取参数和写入功率电平(P)的相关值，曲线拟合定义读取参数与写入功率电平(P)之间关系的函数，该曲线拟合函数具有写入功率电平(P)的初始值(P_ini)，

5)由该曲线拟合函数获得特征性写入功率电平(P_char)，并且估计该特征性写入功率电平(P_char)是否符合写入参数最佳值标准，如果该特征性写入功率电平(P_char)不符合写入参数最佳值的标准，则开始

6)通过重复过程来获得一个或多个特征性写入功率电平(P_char，n)，在重复过程中由以下等式给出随后的写入功率电平(P_ini，n)初始值

P_ini，n+1＝A P_ini，n+(1-A)P_char，n，

其中A为常数，n为整数。