[发明专利]用于测量正在移动的玻璃基板的厚度的在线厚度规及其方法有效

专利信息
申请号: 200680002018.9 申请日: 2006-01-10
公开(公告)号: CN101341393A 公开(公告)日: 2009-01-07
发明(设计)人: K·C·陈;E·J·兰哈德特;D·Y·马;J·C·麦克雷里;J·P·小特瑞里 申请(专利权)人: 康宁股份有限公司
主分类号: G01N21/41 分类号: G01N21/41
代理公司: 上海专利商标事务所有限公司 代理人: 李玲
地址: 美国*** 国省代码: 美国;US
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摘要:
搜索关键词: 用于 测量 正在 移动 玻璃 厚度 在线 及其 方法
【权利要求书】:

1.一种在线厚度规OLTG,用于测量正在移动的预切割玻璃基板的厚度,所 述系统包括:

输送机,抓住所述预切割玻璃基板的顶部并移动所述预切割玻璃基板;

玻璃抓具设备,通过其移动预切割玻璃基板在所述玻璃抓具设备抓住所述 移动预切割玻璃基板的前表面和后表面两者处行进,其中仍然抓住所述预切割 玻璃基板的顶部的所述输送机移动所述预切割玻璃基板通过所述玻璃抓具设 备;其中所述玻璃抓具设备包括:Y-导向装置,包括一对引导件,其抓住并引 导所述移动预切割玻璃基板进入以被稳定设备接收;

通过所述稳定设备之前抓住的移动预切割玻璃基板在所述稳定设备稳定 所述之前抓住的移动预切割玻璃基板底部的前表面和后表面两者处行进,其中 仍然抓住所述预切割玻璃基板的顶部的所述输送机移动所述预切割玻璃基板 通过所述玻璃抓具设备;其中所述稳定设备包括多个皮带驱动辊筒,其驱动所 述之前抓住的移动预切割玻璃基板的前表面和后表面两者;

激光光源,在稳定的移动预切割玻璃基板的前表面发射单个光束;

检测器,接收由稳定的移动预切割玻璃基板的前表面所反射的第一光束并 接收由稳定的移动预切割玻璃基板的后表面所反射的第二光束;以及

处理器,分析由所述检测器接收到的所述第一光束和所述第二光束,以确 定所述第一光束和所述第二光束之间的距离,其中所述距离被用于确定稳定的 移动玻璃基板的厚度。

2.如权利要求1所述的OLTG,其特征在于,所述处理器使用从编码器接 收到的信号,来确定在正在移动的玻璃基板上进行过厚度测量的那些位置。

3.如权利要求1所述的OLTG,还包括用于向所述处理器发送信号的一对 相邻传感器,所述处理器使用所述信号来确定在稳定的移动预切割玻璃基板上 进行过厚度测量的那些位置。

4.如权利要求1所述的OLTG,还包括用于向所述处理器发送信号的一对 相邻传感器,所述处理器使用所述信号来确定所述移动预切割玻璃基板的速度 和宽度。

5.一种用于测量玻璃基板的厚度的方法,所述方法包括如下步骤:

抓住所述预切割玻璃基板的顶部并移动所述预切割玻璃基板;

移动预切割玻璃基板在抓住所述移动预切割玻璃基板的前表面和后表面 两者处行进,移动所述预切割玻璃基板通过;其中所述抓住并移动的步骤是由 下列来执行的:

Y-导向装置,包括一对引导件,其抓住并引导所述移动预切割玻璃基 板进入以被接收;

之前抓住的移动预切割玻璃基板在稳定所述之前抓住的移动预切割玻璃 基板底部的前表面和后表面两者处行进,其中移动所述预切割玻璃基板通过; 其中所述稳定步骤是由下列来执行的:

多个皮带驱动辊筒,其驱动所述之前抓住的移动预切割玻璃基板的前 表面和后表面两者;

在稳定的移动预切割玻璃基板的前表面发射单个光束;

接收由稳定的移动预切割玻璃基板的前表面所反射的第一光束并接收由 稳定的移动预切割玻璃基板的后表面所反射的第二光束;以及

分析接收到的所述第一光束和所述第二光束,以确定所述第一光束和所述 第二光束之间的距离,其中所述距离被用于确定稳定的移动玻璃基板的厚度。

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