[发明专利]光拾取装置无效
| 申请号: | 200680000879.3 | 申请日: | 2006-11-06 |
| 公开(公告)号: | CN101099203A | 公开(公告)日: | 2008-01-02 |
| 发明(设计)人: | 新勇一;大田耕平;桥村淳司;池中清乃 | 申请(专利权)人: | 柯尼卡美能达精密光学株式会社 |
| 主分类号: | G11B7/135 | 分类号: | G11B7/135 |
| 代理公司: | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人: | 许海兰 |
| 地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 拾取 装置 | ||
技术领域
本发明涉及光拾取装置,尤其涉及对不同的光信息记录介质进行信息记录以及/或再现的光拾取装置。
背景技术
近年来,在光拾取装置中,作为再现光盘上记录着的信息或向光盘记录信息所使用的激光光源,其短波长化有所进展。例如,蓝紫色半导体激光或利用第2高谐波进行红外半导体激光的波长变换的蓝色SHG激光等波长400~420nm的激光光源越来越实用化。
若使用这些蓝紫色激光光源,那么,在使用数值孔径(NA)与DVD(数字通用光盘)相同的物镜时,对直径12cm的光盘能够记录15~20GB的信息,将物镜的NA提高到0.85时,对直径12cm的光盘能够记录23~25GB的信息。以下本说明书中,将使用蓝紫色激光光源的光盘以及光磁盘总称为“高密度光盘”。
但是,作为高密度光盘,现在建议有2种规格。1种是使用NA0.85物镜的保护层厚度为0.1mm的蓝光光盘(以下略记为BD),另1种是使用NA0.65乃至0.67物镜的保护层厚度为0.6mm的HD DVD(以下略记为HD)。另外,现在有记录着各种各样信息的DVD、CD等出售。鉴于上述实际情况,能够对不同光盘进行信息记录以及/或再现的光拾取装置,在专利文献1、2中有所公开。
专利文献1:国际公开第03/91764号文本
专利文献2:特开2005-209299号公报
然而,因为BD、HD和DVD、CD的信息记录面上设置的保护层厚度分别为t1=0.1mm,t2、t3=0.6mm,t4=1.2mm而有所不同,所以,若使用通用物镜,使其能够对任意哪一个光盘进行适当聚光地定下其规格的话,那么,用它对其他光盘聚光时,则存在一个产生起因于保护层厚度的球面像差之问题。对此,因为在对不同光盘进行信息记录以及/或再现之际可以采用不同波长的光束,所以,通过采用形成在物镜上的光程差付与构造给予相应于波长的光程差,这样,能够修正起因于保护层厚度的球面像差。但是,衍射构造所代表的光程差付与构造,是与入射光束波长相应地形成微细的段差,而在玻璃制的对物光学元件上设置该段差的话,存在一个成本高的问题。
另一方面,用塑料形成对物光学元件时,制作具有微细段差的模具,通过采用模具进行射出成型等方法,能够比较容易地大量生产具有衍射构造等的对物光学元件。但是,用塑料形成对物光学元件时,一般来说对于温度变化的折射率变化较大,所以,存在有难于用于环境温度变化较大的光拾取装置的情况。
发明内容
本发明鉴于上述问题,以提供一种光拾取装置为目的,该光拾取装置具有比较简单的结构,能够对不同的光信息记录介质互换可能地进行信息的记录以及/或再现。
第1项记载的是一种光拾取装置,其包括:射出波长λ1光束的第1光源;射出波长λ2(λ1<λ2)光束的第2光源;耦合透镜,其配置在所述第1光束以及所述第2光束穿过的共同光路上;第1对物光学元件,其备有仅由折射面组成的光学面;第2对物光学元件,其备有仅由折射面组成的光学面;其中,从所述第1光源射出的所述波长λ1的第1光束穿过所述耦合透镜,由所述第1对物光学元件聚光,能够对保护层厚t1的第1光信息记录介质的信息记录面进行聚光点的形成,另外,从所述第1光源射出的所述波长λ1的第1光束穿过所述耦合透镜,由所述第2对物光学元件聚光,能够对保护层厚t2(t2>t1)的第2光信息记录介质的信息记录面进行聚光点的形成,并且,从所述第2光源射出的所述波长λ2的第2光束穿过所述耦合透镜,由所述第2对物光学元件聚光,能够对保护层厚为t3(0.9t2≤t3≤1.1t2)、且轨迹间距大于所述第2信息记录介质的第3光信息记录介质的信息记录面进行聚光点的形成,其特征在于,
所述耦合透镜能够在
使用所述第1光束,经由所述第1对物光学元件,对所述第1光信息记录介质的信息记录面进行聚光点形成的第1位置和、
使用所述第1光束,经由所述第2对物光学元件,对所述第2光信息记录介质的信息记录面进行聚光点形成的第2位置和、
使用所述第2光束,经由所述第2对物光学元件,对所述第3光信息记录介质的信息记录面进行聚光点形成的第3位置、之至少3个的光轴方向位置进行变位;
当使波长λ3(1.7λ1≤λ3≤2.3λ1)的平行光束入射到所述第2对物光学元件上时,保护层厚为t4(t4>t3)、且轨迹间距大于所述第3信息记录介质的第4光信息记录介质的信息记录面上形成的聚光点,其中,波阵面像差在0.07λ3rms以上。
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