[发明专利]光拾取装置

权利要求书

1.一种光拾取装置，其包括：射出波长λ1光束的第1光源；射出波长λ2光束的第2光源；耦合透镜，其配置在所述第1光束以及所述第2光束穿过的共同光路上；第1对物光学元件，其备有仅由折射面组成的光学面；第2对物光学元件，其备有仅由折射面组成的光学面；其中，从所述第1光源射出的所述波长λ1的第1光束穿过所述耦合透镜，由所述第1对物光学元件聚光，能够对保护层厚t1的第1光信息记录介质的信息记录面进行聚光点的形成，另外，从所述第1光源射出的所述波长λ1的第1光束穿过所述耦合透镜，由所述第2对物光学元件聚光，能够对保护层厚t2的第2光信息记录介质的信息记录面进行聚光点的形成，并且，从所述第2光源射出的所述波长λ2的第2光束穿过所述耦合透镜，由所述第2对物光学元件聚光，能够对保护层厚为t3、且轨迹间距大于所述第2信息记录介质的第3光信息记录介质的信息记录面进行聚光点的形成，其中，λ1＜λ2、t2＞t1、0.9t2≤t3≤1.1t2，

其特征在于，

所述耦合透镜能够在

使用所述第1光束，经由所述第1对物光学元件，对所述第1光信息记录介质的信息记录面进行聚光点形成的第1位置和、

使用所述第1光束，经由所述第2对物光学元件，对所述第2光信息记录介质的信息记录面进行聚光点形成的第2位置和、

使用所述第2光束，经由所述第2对物光学元件，对所述第3光信息记录介质的信息记录面进行聚光点形成的第3位置、之至少3个的光轴方向位置进行位置变化；

当使波长λ3的平行光束入射到所述第2对物光学元件上时，保护层厚为t4、且轨迹间距大于所述第3信息记录介质的第4光信息记录介质的信息记录面上形成的聚光点，其中，波阵面像差在0.07λ3rms以上，其中，1.7λ1≤λ3≤2.3λ1、t4＞t3。

2.根据权利要求1中记载的光拾取装置，其特征在于，所述第1乃至第3光信息记录介质的至少1个具有多个信息记录面，对应所述对物光学元件聚光的信息记录面，所述耦合透镜在光轴方向作位置变化。

3.一种光拾取装置，其包括：射出波长λ1光束的第1光源；射出波长λ2光束的第2光源；耦合透镜，其配置在所述第1光束以及所述第2光束穿过的共同光路上，且备有所述波长λ1光束穿过时的出射角和所述波长λ2光束穿过时的出射角为相异的衍射构造；像差修正机构，其配置在所述共同光路上，且使所述波长λ1光束穿过时的球面像差量和所述波长λ2光束穿过时的球面像差量相异；第1对物光学元件，其备有仅由折射面组成的光学面；第2对物光学元件，其备有仅由折射面组成的光学面；其中，从所述第1光源射出的所述波长λ1的第1光束穿过所述耦合透镜以及所述像差修正机构，由所述第1对物光学元件聚光，能够对保护层厚t1的第1光信息记录介质的信息记录面进行聚光点的形成，另外，从所述第1光源射出的所述波长λ1的第1光束穿过所述耦合透镜以及所述像差修正机构，由所述第2对物光学元件聚光，能够对保护层厚t2的第2光信息记录介质的信息记录面进行聚光点的形成，并且，从所述第2光源射出的所述波长λ2的第2光束穿过所述耦合透镜以及所述像差修正机构，由所述第2对物光学元件聚光，能够对保护层厚为t3、且轨迹间距大于所述第2信息记录介质的第3光信息记录介质的信息记录面进行聚光点的形成，其中，λ1＜λ2、t2＞t1、0.9t2≤t3≤1.1t2，

其特征在于，

对穿过所述耦合透镜和所述像差修正机构的光束给出

第1像差状态，该状态适合于使用所述第1光束，经由所述第1对物光学元件，对所述第1光信息记录介质的信息记录面进行聚光点形成，和、

第2像差状态，该状态适合于使用所述第1光束，经由所述第2对物光学元件，对所述第2光信息记录介质的信息记录面进行聚光点形成，和、

第3像差状态，该状态适合于使用所述第2光束，经由所述第2对物光学元件，对所述第3光信息记录介质的信息记录面进行聚光点形成、之任何一个状态；

当使波长λ3的平行光束入射到所述第2对物光学元件上时，保护层厚为t4、且轨迹间距大于所述第3信息记录介质的第4光信息记录介质的信息记录面上形成的聚光点，其中，波阵面像差在0.07λ3rms以上，其中，1.7λ1≤λ3≤2.3λ1、t4＞t3。