[实用新型]PCB板测试仪的测试电路改良

说明书

技术领域

本实用新型涉及一种测量仪器，更具体的说，为PCB板仪器的测试电路改良。

背景技术

现在的测试仪器测试元件电阻，一般采用电流电压法测试原理，即采用将电流表或电压表的测试探头直接接触在被测元件的两端，电流表或电压表提供恒定的电压或电流，通过测试回路的电流或电压，达到测试元件的电阻的目的。

这种结构的测量仪器，当测量电阻值较大时，其测量精度可以保证，但测量较小的电阻元件时，由于测量仪器的测试探头线本身有一定的内阻，与待测电阻相差较小时，测量值就会产生较大误差，无法保证测量的精度。现在的市场测试仪器还没有很好的克服这一技术难题。

对于PCB板测试，待测的元件内阻一般相差较大，有时可能需要测量内阻上百兆欧姆的元件，有时可能需要测量一个几毫欧姆的元件，另外，PCB板的测试点数多，元件的精度高，这无疑对PCB板的仪器产生更高的要求。

发明内容

本实用新型的针对现有技术不足，提供一种测量精度高，测量的点数多的PCB板仪器的测试电路改良。

本实用新型提供的PCB板测试仪的测试电路改良，测试电路设有恒流源或恒压源，测试电路连接有定值电阻，定值电阻连接运算放大器一，运算放大器一的输出端连接数模转化模块，测试电路的两个测量端子连接高阻抗运算放大器二，测试电路中还设有电子开关。

所述的定值电阻有多个，他们并联在测试电路中，每个定值电阻都串联有一个开关。

所述的测试电路的恒流源或恒压源直接连接两个PNP三极管Q1、Q3的发射极，PNP三极管的基极Q1、Q3串联信号源SC，PNP三极管Q1、Q3集电极分别连接测量端子P1、P2，测量端子P1、P2分别与两个NPN三极管Q2、Q4的集电极相连，NPN三极管Q2、Q4的基极与控制源SK连接，此NPN三极管Q2、Q4发射极同时定值电阻。

本实用新型有益效果在于：本实用新型通过运算放大器二直接与测量端子相连接，由于运算放大器二为高阻抗的元件，这相当于将测试探头线本身的内阻变为零，有效提高测量的精确程度，本实用新型还提供了恒压源和恒流源两种测量电压，使测量范围较大程度的扩大。

附图说明：

图1为本实用新型的电路原理图

具体实施方式：

以下仅为本实用新型较佳实施例，并不以此来限定本实用新型的保护范围。

见图1所示，本实用新型采用的PCB板测试仪的测试电路改良，测试电路提供恒流源或恒压源，恒流源或恒压源直接连接两个PNP三极管Q1、Q3的发射极，此PNP三极管基极Q1、Q3串联信号源SC连接，此PNP三极管Q1、Q3集电极分别连接测量端子P1、P2，测量触点P1、P2分别与两个NPN三极管Q2、Q4的集电极相连，此NPN三极管Q2、Q4的基极与控制源SK连接，此NPN三极管Q2、Q4发射极同时串联定值电阻到信号地，定值电阻有多个，其阻值各不相同，他们并联在测试电路中，每个定值电阻都串联有一个开关，本实施例提供三个电阻R1、R2和R3，分别串联开关K1、K2和K3，其应用与不同测量值的电路中。定值电阻连接运算放大器一的输入端，运算放大器的输出端连接数模转化模块，测试电路的两个测量端子P1、P2还连接高阻抗运算放大器二，在测量端子P1、P2和高阻抗运算放大器二的两个端子之间设有电子开关K1、K2、K3、K4、K5、K6，以控制端子是否连通高阻抗运算放大器二。

本电路为PCB板测试仪器的两个量测端子的测试电路，实际的PCB板测试仪器设置多个测试卡，每个测试卡集成了256测试端子。

本实用新型的工作原理如下：

1.当测量端子P1、P2连接待测电阻R_X的电阻值比较小时(0.005-30欧姆)，测试电路连接恒流源，即电流值大小恒定，并已知电流值，三极管开关通路Q1与Q4开通，电流从Q1流过R_X，经过Q4、K7和定值电阻R1通入恒流源负端。此时开关K1、K2、K4、K6、K7闭合，运算放大器二与待测电阻R_X两端直接相连通，可直接测出待测电阻R_X两端电压，且运算放大器二本身为高阻抗元件，直接测量端子P1、P2连接，相当于将测试探头线本身的内阻变为零，运算放大器二将经过测得的结果直接输入A/D数模转换，通过显示器直接显示测得的结果。