[实用新型]PCB板测试仪的测试电路改良无效
| 申请号： | 200620154125.0 | 申请日： | 2006-12-04 |
| 公开（公告）号： | CN201014993Y | 公开（公告）日： | 2008-01-30 |
| 发明（设计）人： | 杨世光 | 申请（专利权）人： | 杨世光 |
| 主分类号： | G01R1/02 | 分类号： | G01R1/02;G01R27/02;G01R27/14 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 523000广东省东莞*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | pcb 测试仪 测试 电路 改良 | ||
【权利要求书】：
1.PCB板测试仪的测试电路改良，其特征在于：测试电路设有恒流源或恒压源，测试电路连接有定值电阻，定值电阻连接运算放大器一，运算放大器一的输出端连接数模转化模块，测试电路的两个测量端子连接高阻抗运算放大器二，测试电路中还设有电子开关。
2.根据权利要求1所述的PCB板测试仪的测试电路改良，其特征在于：所述的定值电阻有多个，它们并联在测试电路中，每个定值电阻都串联有一个开关。
3.根据权剂要求1或2所述的PCB板测试仪的测试电路改良，其特征在于：所述的测试电路的恒流源或恒压源直接连接两个PNP三极管Q1、Q3的发射极，PNP三极管的基极Q1、Q3串联信号源SC，PNP三极管Q1、Q3集电极分别连接测量端子P1、P2，测量端子P1、P2分别与两个NPN三极管Q2、Q4的集电极相连，NPN三极管Q2、Q4的基极与控制源SK连接，此NPN三极管Q2、Q4发射极同时定值电阻。
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