[实用新型]一种测试装置无效
| 申请号: | 200620016757.0 | 申请日: | 2006-12-25 |
| 公开(公告)号: | CN201039183Y | 公开(公告)日: | 2008-03-19 |
| 发明(设计)人: | 王爱伟 | 申请(专利权)人: | 华为技术有限公司 |
| 主分类号: | H04B10/08 | 分类号: | H04B10/08;H04B10/12 |
| 代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
| 地址: | 518129广东省*** | 国省代码: | 广东;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 测试 装置 | ||
技术领域
本实用新型涉及电子或通信领域中的测试技术,特别涉及一种测试装置。
背景技术
光通讯技术在整个通信网络中,贯穿着网络的各个层次,承载着丰富多彩的业务。为了保证整个系统能够稳定地运行,就非常有必要对其中的系统设备或终端设备进行测试,但伴随着传输速率的不断提升,其接口特性也日益多样化,端口数量也逐渐增多,进而使得测试的难度大大增加。
为了解决上述的问题,业界采用了如图1和图2所示的第一种技术方案:该方案的核心为采用子架结合仪器堆叠的方式,即,将单板、配置光功率计、光衰减器、分光计、专用测试仪器并连同控制终端和测试子架放置于测试台上或标准机柜中。
虽然上述技术方案可以在一定程度解决以前现有技术中存在的问题,但由于上述的对光接口单板的测试方案,专用性强,所以具有如下缺点:
只能用于测试特定产品的一种或者一类单板,对测试资源的共享少,加上光测试仪器十分昂贵,所以有利用率低且成本高的缺点;
由于专用性强,所以当需要新开发测试系统时,具有周期长,需要重新安装调试的缺点;
在整个测试过程中手工干预太多,所以光路切换的灵活性和柔性都较差,难以对付产能高峰的压力;
另外,还具有测试效率低,占用生产场地面积大。
请参考图3和图4,为业界第二种技术方案,和第一种技术方案相比,区别点只是在测试资源中增加了光开关,该方案也是将要测试的单板,配置光功率计、光衰减器、光开关、专用测试仪器、控制终端和测试子架放置于测试台上或安装在一个标准机柜中。
虽然相较于第一种技术方案,该方案增加了光开关,能够减少测试过程中的手工干预,提高光路切换的灵活性,但仍然具有如下缺点:
只能用于测试特定产品的一种或者一类单板,对测试资源的共享少,加上光测试仪器十分昂贵,所以有利用率低且成本高的缺点;
由于专用性强,所以当需要新开发测试系统时,具有周期长,需要重新安装调试的缺点;
在整个测试过程中手工干预太多,所以光路切换的灵活性和柔性都较差,难以对付产能高峰的压力;
另外,还具有测试效率低,占用生产场地面积大。
实用新型内容
本实用新型的目的是提供一种测试装置,以提测试系统的资源共享度,解决重复开发的问题。
为达本实用新型的实用新型目的,本实用新型提供如下技术方案:
一种测试光接口单板的平台化装置,包括被测板接口(10)、光开关(201)、光开关(202)、光功率计(30)、光衰减器(40)、测试仪器(50),被测板接口(10)、光开关(201)、测试仪器(50)、光开关(202)、被测板接口(10)依次连接,形成一个环路;被测板接口(10)通过光开关(201)与光功率计(30)连接;被测板接口(10)、光开关(201)、光衰减器(40)、光开关(202)、被测板接口(10)依次连接,形成一个环路。
所述的平台化装置,还包括光开关(203)、光开关(204)、光谱仪(60),被测板接口(10)、光开关(201)、光开关(203)、测试仪器(50)、光开关(204)、光衰减器(40)、光开关(202)、被测板接口(10)依次连接,形成一个环路;被测板接口(10)、光开关(201)、光开关(203)、光开关(204)、光衰减器(40)、光开关(202)、被测板接口(10)依次连接,形成一个环路;光功率计(30)、光谱仪(60)连接在光开关(203)上。
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