[实用新型]一种测试装置无效

专利信息
申请号: 200620016757.0 申请日: 2006-12-25
公开(公告)号: CN201039183Y 公开(公告)日: 2008-03-19
发明(设计)人: 王爱伟 申请(专利权)人: 华为技术有限公司
主分类号: H04B10/08 分类号: H04B10/08;H04B10/12
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 518129广东省*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 一种 测试 装置
【权利要求书】:

1.一种测试装置,其特征在于,包括被测板接口(10)、第一光开关(201)、第二光开关(202)、光功率计(30)、光衰减器(40)、测试仪器(50),被测板接口(10)、第一光开关(201)、测试仪器(50)、第二光开关(202)、被测板接口(10)依次连接,形成一个环路;被测板接口(10)通过第一光开关(201)与光功率计(30)连接;被测板接口(10)、第一光开关(201)、光衰减器(40)依次连接。

2.如权利要求1所述的测试装置,其特征在于,被测板接口(10)、第一光开关(201)、光衰减器(40)、第二光开关(202)、被测板接口(10)依次连接,形成一个环路。

3.如权利要求1所述的测试装置,其特征在于,所述的平台化装置还包括第三光开关(203)、第四光开关(204)、光谱仪(60),被测板接口(10)、第一光开关(201)、第三光开关(203)、测试仪器(50)、第四光开关(204)、光衰减器(40)、第二光开关(202)、被测板接口(10)依次连接,形成一个环路;被测板接口(10)、第一光开关(201)、第三光开关(203)、第四光开关(204)、光衰减器(40)、第二光开关(202)、被测板接口(10)依次连接,形成一个环路;光功率计(30)、光谱仪(60)连接在第三光开关(203)上。

4.如权利要求1所述的测试装置,其特征在于,所述的平台化装置还包括第三光开关(203)、第四光开关(204)、光谱仪(60),被测板接口(10)、第一光开关(201)、第三光开关(203)、测试仪器(50)、第四光开关(204)、光衰减器(40)、第二光开关(202)、被测板接口(10)依次连接,形成一个环路;被测板接口(10)、第一光开关(201)、第三光开关(203)、第四光开关(204)、光衰减器(40)、第二光开关(202)、被测板接口(10)依次连接,形成一个环路;光谱仪(60)连接在第三光开关(203)上,光功率计(30)连接至第一光开关(201)上。

5.如权利要求1所述的测试装置,其特征在于,所述的平台化装置还包括第五光开关(205)、第六光开关(206)、第七光开关(207)、固定衰减器(701)、固定衰减器(702),被测板接口(10)、第一光开关(201)、第五光开关(205)、固定衰减器(701)、光开关(203)、测试仪器(50)、第四光开关(204)、光衰减器(40)、第六光开关(206)、第二光开关(202)、被测板接口(10)依次连接形成一个环路;被测板接口(10)、第一光开关(201)、第五光开关(205)、第七光开关(207)、第四光开关(204)、光衰减器(40)、第六光开关(206)、第二光开关(202)、被测板接口(10)依次连接形成一个环路;被测板接口(10)、第一光开关(201)、第五光开关(205)、固定衰减器(701)、第三光开关(203)、测试仪器(50)、第四光开关(204)、光衰减器(40)、第六光开关(206)、第二光开关(202)、被测板接口(10)依次连接;被测板接口(10)、第一光开关(201)、第五光开关(205)、第七光开关(207)、固定衰减器(702)、第六光开关(206)、第二光开关(202)、被测板接口(10)依次连接形成一个环路;光谱仪(60)连接在第七光开关(207)上,光功率计(30)连接至第一光开关(201),或第四光开关(204),或第七光开关(207)上。

6.如权利要求1或2或3或4或5所述的测试装置,其特征在于,所述的光开关(201)、光开关(202)、光开关(203)、光开关(204)、光开关(205)、光开关(206)、光开关(207)的型号为1×2、1×4、1×8、1×16、2×2、2×4、2×8中的一种或多种。

7.如权利要求1或2或3或4或5所述的测试装置,其特征在于,所述测试仪器(50)支持的业务属性的种类为:ATM,POS,FE,GE,SDH,EPON,GPON,10GE,40GE之中的一种或多种。

8.如权利要求1或2或3或4或5所述的测试装置,其特征在于,所述测试仪器(50)支持的业务的速率为155M,或622M,或1.25G,或2.5G,或10G,或40G。

9.如权利要求1或2或3或4或5所述的测试装置,其特征在于,所述测试仪器(50)支持的接口为FC,或SC,或LC,或MTRJ,或DLC,或DSC,或DFC。

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