[发明专利]静电潜像载体、静电潜像显影剂以及成像装置有效
| 申请号: | 200610168981.6 | 申请日: | 2006-12-18 |
| 公开(公告)号: | CN101055438A | 公开(公告)日: | 2007-10-17 |
| 发明(设计)人: | 吉原宏太郎;高木正博;井上敏司;鹤见洋介;井口萌木 | 申请(专利权)人: | 富士施乐株式会社 |
| 主分类号: | G03G9/10 | 分类号: | G03G9/10;G03G9/107;G03G15/00 |
| 代理公司: | 永新专利商标代理有限公司 | 代理人: | 王英 |
| 地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 静电 载体 显影剂 以及 成像 装置 | ||
1.一种静电潜像载体,包括核心颗粒以及涂敷核心颗粒表面的树脂涂敷层,其中
核心颗粒的表面粗糙度显示出满足表达式Sm≤2.0μm的与JISB0601相符的表面粗糙度Sm和满足表达式Ra≥0.1μm的与JIS B0601相符的表面粗糙度Ra,
静电潜像载体的与JIS B0601相符的表面粗糙度Ra满足表达式Ra≤0.5μm,静电潜像载体的球度为0.975或更高。
2.根据权利要求1的静电潜像载体,其中
在静电潜像载体表面处的核心暴露比率为2%或更低。
3.根据权利要求1的静电潜像载体,其中
所述载体的核心由下式表示:
(MO)x(Fe2O3)Y
其中,M包括选自由Cu、Zn、Fe、Mg、Mn、Ca、Li、Ti、Ni、Sn、Sr、Al、Ba、Co和Mo构成的组的一种或多种金属;且X和Y表示摩尔比,其中X+Y=1.00。
4.根据权利要求3的静电潜像载体,其中M包括选自由Li、Mg、Ca、Mn、Sr、和Sn构成的组的一种或多种金属,且任意其它M成分的组合量不高于1%重量。
5.根据权利要求1的静电潜像载体,其中当使用VSM(振动样品磁强检测法)测量装置并使用BH示踪法,在1kOe磁场内测量核心颗粒的磁化率σ时,获得的磁化值σ1000在45到90Am2/kg(emu/g)的范围内。
6.根据权利要求1的静电潜像载体,其中核心颗粒的平均颗粒尺寸在10到100μm的范围内。
7.根据权利要求1的静电潜像载体,其中在5000V/cm的测量电场下所述载体的电阻在1×105到1×1014Ω-cm的范围内。
8.根据权利要求1的静电潜像载体,其中,当在104V/cm的电场下以磁刷的形式测量时,所述载体的动态电阻在1×103到1×1013Ω-cm的范围内。
9.根据权利要求1的静电潜像载体,其中树脂涂敷层的厚度在0.1至5μm的范围内。
10.一种静电潜像显影剂,包括调色剂和载体,其中
载体是根据权利要求1的静电潜像载体。
11.根据权利要求10的静电潜像显影剂,其中调色剂的体积平均颗粒尺寸在3到9μm的范围内。
12.根据权利要求10的静电潜像显影剂,其中调色剂的形状因数SF1的平均值是100或更大,但是不高于135。
13.根据权利要求10的静电潜像显影剂,其中调色剂的着色剂的体积平均颗粒尺寸在0.01到0.1μm的范围内。
14.根据权利要求10的静电潜像显影剂,其中调色剂的比例在整个显影剂的1%到15%重量的范围内。
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