[发明专利]测试点查错方法无效
| 申请号： | 200610165608.5 | 申请日： | 2006-12-08 |
| 公开（公告）号： | CN101196943A | 公开（公告）日： | 2008-06-11 |
| 发明（设计）人： | 张雪斌;杨淑敏 | 申请（专利权）人： | 英业达股份有限公司 |
| 主分类号： | G06F17/50 | 分类号： | G06F17/50 |
| 代理公司： | 北京纪凯知识产权代理有限公司 | 代理人： | 程伟;王锦阳 |
| 地址： | 中国台*** | 国省代码： | 中国台湾;71 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 测试 查错 方法 | ||
1.一种测试点查错方法，其应用于数据处理装置中，并搭载至一用以于电路板的通孔上布设测试点的布设应用程序，其特征在于，该测试点查错方法包括：
在通过该布线应用程序选取欲布设测试点的通孔时，采集该通孔的规格参数；
在通过该布线应用程序选取欲于该通孔上进行布设的测试点时，采集该测试点的规格参数；以及
将所选取的该通孔的规格参数与该测试点的规格参数予以对比，且于两者经对比为不匹配时，令该布线应用程序暂停布设测试点的动作，并发出错误提示信息。
2.根据权利要求1所述的测试点查错方法，其特征在于，该规格参数系包括有焊垫以及通孔的尺寸。
3.根据权利要求1所述的测试点查错方法，其特征在于，还包括将所选取的通孔的规格参数以及测试点的规格参数，分别转换为该布设应用程序可识别的第一代码以及第二代码，以供后续将二代码予以对比。
4.根据权利要求3所述的测试点查错方法，其特征在于，该通孔与该测试点的之对比是指，由该用以表示通孔的规格参数的第一代码与该用以表示测试点的规格参数的第二代码进行逐位对比，且于该第一代码与第二代码二者的其中任一位的对应数字经对比不匹配时，发出一错误提示信息。
5.根据权利要求3所述的测试点查错方法，其特征在于，该第一代码与该第二代码是由“0”与“1”的二进制数字组成。
6.根据权利要求1所述的测试点查错方法，其特征在于，该电路板为印刷电路板、封装基板或多层电路板。
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