[发明专利]像素结构有效
| 申请号: | 200610132029.0 | 申请日: | 2006-10-19 |
| 公开(公告)号: | CN101165904A | 公开(公告)日: | 2008-04-23 |
| 发明(设计)人: | 林光祥;游辉钟 | 申请(专利权)人: | 中华映管股份有限公司 |
| 主分类号: | H01L27/12 | 分类号: | H01L27/12;H01L23/522;H01L29/786;H01L29/417;G02F1/136 |
| 代理公司: | 上海专利商标事务所有限公司 | 代理人: | 陈亮 |
| 地址: | 中国台湾桃*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 像素 结构 | ||
技术领域
本发明关于一种液晶显示器,特别是提供一种适用于液晶显示器的像素结构,本发明可以使无法正常动作的像素可以获得正常的显示信号达到缺陷修补。
背景技术
薄膜晶体管液晶显示器(Thin Film Transistor-Liquid CrystalDisplay,TFT-LCD)是目前最被广泛使用的一种平面显示器,它具有低消耗功率、薄形质轻以及低电压驱动等优点。通常,薄膜晶体管液晶显示器的液晶填充在一含有电极的薄膜晶体管面板(panel)与一含有电极的彩色滤光片(color filter,CF)面板之间,且液晶对光的穿透性是由供给到各电极的电压所控制。薄膜晶体管面板的影像显示区域由许多以矩阵型式安排的像素组成。
于面板的生产过程中,像素常易受到制程污染,如灰尘、油渍,或是静电破坏,使得薄膜晶体管异常的短路或断路,造成像素的点缺陷(pixel defect),如亮点(white defect)、暗点(dark defect)及辉点(gray defect)。
图1为根据现有技术的液晶显示装置的部分像素结构平面示意图。如图1中所示,利用一与可导电的像素电极110连接的第二金属层120,于其下垫一块第一金属层130,第二金属层120且与信号线140重叠但彼此绝缘。若薄膜晶体管无法正常工作时,则以激光将此两点(激光修补区域A)短路,达到修补功用。然而,此种修补方式需多一块浮置金属层,其会造成开口率降低,且无一固定电压准位,故容易导致资料线上的电压信号影响到像素的电位造成面板显示品质降低。另外,也可能因为静电累积的关系,于第一金属层与第二金属层重叠处容易造成静电破坏或与相邻的同层金属短路,反而提高不良率。并于像素修补时,需要使用激光轰击两个点使其短路才能达到像素修补的目的。而在像素修复完成后,仅可显示资料信号线上的平均电压,视觉上显示为灰阶,在全黑画面下仍可能被检视出来。
此修补方法需要激光照射两次,手续复杂需耗费较多的修补时间与成本。因此,如何解决上述问题对提升液晶显示装置面板的产品良率与制造成本是很重要的。
发明内容
本发明的目的提供一种液晶显示器的像素结构,利用前一个像素的薄膜晶体管作为信号的提供源,使无法正常动作的像素可以获得正常的显示信号达到缺陷修补。
本发明的另一目的提供一种液晶显示器的像素修补结构,利用像素修补设计解决薄膜晶体管失效时无法正常动作而造成亮点或暗点,使其具有正常像素灰阶显示的能力。
本发明的又一目的提供一种液晶显示器的像素修补结构,此像素修补设计设置于像素上方的黑矩阵区内,可作为遮光图案并不影响开口率。
本发明的再一目的提供一种液晶显示器的像素修补结构,仅需使用激光轰击一次即可完成修补,且像素显示的亮度完全与上方像素相同并非辉点,无论在任何显示画面下都不易检查出来,可大幅减少修补时间与提高产品良率。
为了达到上述目的,本发明一实施例像素结构,包括:多条扫描线与多条信号线交叉设置于一基板上并定义出多个像素区;多个储存电容电极线,沿着多条扫描线方向设置并横跨像素区且与信号线交叉设置;多个像素电极,相对设置于任一多个像素区内;以及多个薄膜晶体管,分别设置多个像素区的多条扫描线上。其中,任一薄膜晶体管包括:一栅极电极;一源极电极与信号线电性连接;一第一漏极电极设置于该栅极电极之一侧且与像素电极电性连接;以及一第二漏极电极,与第一漏极电极对称设置于栅极电极的另一侧,其中第二漏极电极与相邻的像素区的像素电极部分重叠且彼此电性隔绝。
本发明另一实施例像素结构修补方法,包括下列步骤:形成多条扫描线与多条信号线交叉设置于一基板上并定义出多个像素区;形成多条储存电容电极线沿着扫描线方向设置并横跨像素区且与信号线交叉设置;形成多个像素电极于任一像素区内;以及形成多个薄膜晶体管于像素区的扫描线上。其中,任一薄膜晶体管包括:一栅极电极;一源极电极,与信号线电性连接;一第一漏极电极,设置于栅极电极之一侧且与像素电极电性连接;以及一第二漏极电极,与第一漏极电极对称设置于栅极电极的另一侧,其中第二漏极电极与相邻的像素区的像素电极部分重叠且彼此电性隔绝。接着,照射一激光,将第二漏极电极与相邻的像素区的像素电极于部分重叠处熔接短路。
通过上述技术特征,本发明仅需使用激光轰击一次即可完成修补,且像素显示的亮度完全与上方像素相同并非辉点,无论在任何显示画面下都不易检查出来,可大幅减少修补时间与提高产品良率。
附图说明
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的





