[发明专利]光学元件的封装方法及其封装结构无效
| 申请号: | 200610126241.6 | 申请日: | 2006-08-21 | 
| 公开(公告)号: | CN101131939A | 公开(公告)日: | 2008-02-27 | 
| 发明(设计)人: | 许健豪 | 申请(专利权)人: | 日月光半导体制造股份有限公司 | 
| 主分类号: | H01L21/50 | 分类号: | H01L21/50;H01L33/00 | 
| 代理公司: | 上海翼胜专利商标事务所 | 代理人: | 翟羽 | 
| 地址: | 中国台湾高雄*** | 国省代码: | 中国台湾;71 | 
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 光学 元件 封装 方法 及其 结构 | ||
1.一种光学元件的封装方法,其特征在于包括以下步骤:
提供一个基材,所述基材表面设有复数个光学元件,所述基材具有至少两个第一对位图案;
提供一个间隔材,所述间隔材具有复数个开口以及至少两个贯孔;
利用所述第一对位图案和所述贯孔作对位,使所述开口对应于所述光学元件,以接合所述基材与所述间隔材;
提供一个玻璃基板,所述玻璃基板具有至少两个第二对位图案;以及
利用所述第二对位图案和所述贯孔作对位,以接合所述间隔材与所述玻璃基板。
2.如权利要求1所述的封装方法,其特征在于提供所述间隔材的这一步骤进一步包括:
提供一个晶圆;
形成一个图案化光阻层在所述晶圆上;以及
依据所述图案化光阻层,将所述晶圆蚀刻出复数个开口以及至少两个贯孔。
3.如权利要求1所述的封装方法,其特征在于接合所述基材与所述间隔材的这一步骤进一步包括:
将一个感光元件聚焦在所述基材与所述间隔材的交界处;
调整所述基材与所述间隔材的相对位置,将所述开口分别对应于所述光学元件;
利用所述感光元件感测以将所述第一对位图案对应于所述贯孔中;以及
压合所述基材与所述间隔材。
4.如权利要求1所述的封装方法,其特征在于接合所述间隔材与所述玻璃基板的这一步骤进一步包括:
将一个感光元件聚焦在所述间隔材与所述玻璃基板的交界处;
调整所述间隔材与所述玻璃基板的相对位置;
利用所述感光元件感测以将所述第二对位图案对应于所述贯孔中;以及
压合所述间隔材与所述玻璃基板。
5.如权利要求3或4所述的封装方法,其特征在于所述感光元件是一个电荷耦合元件。
6.如权利要求1所述的封装方法,其特征在于所述封装方法进一步包括以下步骤:
切割已接合的所述基材、所述间隔材以及所述玻璃基板,以形成复数个光学封装件。
7.一种光学封装件,其特征在于包括:
一个基材,所述基材具有一个第一对位图案;
一个光学元件,所述光学元件设置在所述基材上;
一个间隔材,所述间隔材压合在所述基材上,所述间隔材具有一个开口以及一个贯孔,所述开口对应于所述光学元件,所述第一对位图案对应于所述贯孔;以及
一个玻璃基板,所述玻璃基板压合在所述间隔材上,所述玻璃基板具有一第二对位图案对应于所述贯孔。
8.如权利要求7所述的光学封装件,其特征在于所述间隔材是一个蚀刻而成的晶圆。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
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H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造





