[发明专利]一种液晶屏生产中辅助进行统计过程控制的方法及装置无效

专利信息
申请号: 200610118958.6 申请日: 2006-11-30
公开(公告)号: CN101191932A 公开(公告)日: 2008-06-04
发明(设计)人: 张培培 申请(专利权)人: 上海广电NEC液晶显示器有限公司
主分类号: G02F1/1333 分类号: G02F1/1333;G06F17/50
代理公司: 北京市金杜律师事务所 代理人: 王茂华
地址: 201108上*** 国省代码: 上海;31
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 一种 液晶屏 生产 辅助 进行 统计 过程 控制 方法 装置
【说明书】:

技术领域

发明涉及一种实时统计过程控制(SPC)系统,尤其涉及在液晶屏生产中辅助进行统计过程控制的方法及装置。

背景技术

液晶屏产业是一个需求旺盛的产业,相应地,液晶屏生产管理也是比较困难的。一方面液晶屏生产制造的步骤相当复杂,多品种同时生产且生产量大,另一方液晶屏生产相关的加工设备昂贵、生产原料昂贵,因此,需要对液晶屏生产制造进行有效的管理,以减少错误率、减少废品率,提高生产效益。

目前而言,在液晶屏生产制造行业普遍采用制造执行系统(MES,Manufacturing Execution System)来协助进行生产控制,同时也经常会采用统计过程控制(SPC)技术。SPC技术是当今生产制造业中进行过程质量控制的重要手段。传统的用于SPC分析的数据的获取都是通过人工输入完成的,数据量较小,精度差,只能分析某一个时间段的质量状况;即使是某些设备的软件带有SPC功能,那也只能对某一种设备进行监控,无法在一个系统中对生产线中所有的设备进行实时的监控及SPC分析。

由于液晶屏的制造过程相当复杂,生产工序达上百个甚至更多,相应的生产设备及检查设备的种类及数量也非常多(几百台),这些设备的重要工艺参数在生产过程中的变化情况对质量、技术人员来说非常重要,同时由于液晶屏生产线的产量很大,短时间的停顿就会造成百万、千万元的损失,所以对设备状态的实时监控与分析,在问题发生之前采取预防措施和及时处置尤为重要,这样数据的实时性是一个关键的问题,而且需要能够同时监控生产线中各个工序设备的状况。

但现有的SPC系统却无法满足或者虽然可以部分满足却无法全部满足上述对液晶屏生产过程进行实时监控的需求。现有SPC技术的运用的缺点主要表现为:全部或部分原始数据需要通过手工输入或非自动化导入方式输入或导入SPC软件,然后再由SPC软件进行分析,一方面可能导致数据精度低、可靠性差,另一方面在某些情况下部分工艺数据(Process Data)要到生产车间(洁净房)内的设备上获取,并回到办公室的系统中进行数据的分析,这样的工作效率低下,使得无法真正实现对液晶屏生产过程进行实时监控的需求。此外,技术人员、管理人员也无法在办公室内通过办公自动化系统实时地监控所有设备的生产状况,进行实时的SPC分析及报表制作。

因此,有必要提供一种能够辅助进行统计过程控制的方法和相应的装置,以实现对液晶屏生产过程进行实时监控。

发明内容

本发明的目的是提供在液晶屏生产中辅助进行统计过程控制的方法及装置,通过该方法和装置可以将工艺数据自动提供给统计过程控制装置,从而真正实现对液晶屏生产过程进行实时监控。

根据本发明的一个方面,提供一种在液晶屏生产过程中用于辅助进行统计过程控制的方法,包括如下步骤:

a.获取所述生产过程中一个或多个加工设备的工艺数据;

b.对所述工艺数据进行解析,获得解析后的工艺数据;

c.将所述解析后的工艺数据发送给统计过程控制装置。

优选地,所述步骤b包括:根据预定规则对所述工艺数据进行解析,获得解析后的工艺数据。

优选地,所述根据预定规则对所述工艺数据进行解析的步骤包括:b1.根据预定规则对所述工艺数据进行选择,以获得经选择后的部分工艺数据,将上述经选择后的部分工艺数据作为所述解析后的工艺数据。

优选地,所述根据预定规则对所述工艺数据进行解析的步骤包括:b1′.根据预定规则对所述工艺数据进行选择,以获得经选择后的部分工艺数据;以及b2′.对所述经选择后的部分工艺数据进行预处理,以获得经预处理后的工艺数据,将上述经预处理后的工艺数据作为所述解析后的工艺数据。

优选地,所述步骤b2’包括如下步骤中的任一种或任多种:

-对所述经选择后的部分工艺数据进行排序处理,以使得超出标准值的工艺数据作为被优先处理的工艺数据;

-对所述经选择后的部分工艺数据进行分类处理,以使得不同性质的工艺数据可以被区分;

-对所述经选择后的部分工艺数据进行计算,并将计算结果作为工艺数据作为所述解析后的工艺数据;

-对所述经选择后的部分工艺数据进行精度处理,以使得工艺数据符合所述统计过程分析装置所要求的精度;以及

-对所述经选择后的部分工艺数据进行偏差校正处理,以使得存在偏差的工艺数据被校正。

优选地,所述步骤a包括:获取来自多个设备的不同格式的工艺数据,其中,所述步骤b相应地为:根据预定规则对所述多个设备的不同格式的工艺数据分别进行解析,获得解析后的工艺数据。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于上海广电NEC液晶显示器有限公司,未经上海广电NEC液晶显示器有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/200610118958.6/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top