[发明专利]一种液晶屏生产中辅助进行统计过程控制的方法及装置

权利要求书

1.一种在液晶屏生产过程中用于辅助进行统计过程控制的方法，其中，包括如下步骤：

a.获取所述生产过程中一个或多个加工设备的工艺数据；

b.对所述工艺数据进行解析，获得解析后的工艺数据；

c.将所述解析后的工艺数据发送给统计过程控制装置。

2.根据权利要求1所述的方法，其中，所述步骤b包括：

-根据预定规则对所述工艺数据进行解析，获得解析后的工艺数据。

3.根据权利要求2所述的方法，其中，所述根据预定规则对所述工艺数据进行解析的步骤包括：

b1.根据预定规则对所述工艺数据进行选择，以获得经选择后的部分工艺数据，将上述经选择后的部分工艺数据作为所述解析后的工艺数据。

4.根据权利要求2所述的方法，其中，所述根据预定规则对所述工艺数据进行解析的步骤包括：

b1′.根据预定规则对所述工艺数据进行选择，以获得经选择后的部分工艺数据；

b2′.对所述经选择后的部分工艺数据进行预处理，以获得经预处理后的工艺数据，将上述经预处理后的工艺数据作为所述解析后的工艺数据。

5.根据权利要求4所述的方法，其中，所述步骤b2′包括如下步骤：

-对所述经选择后的部分工艺数据进行排序处理，以使得超出标准值的工艺数据作为被优先处理的工艺数据。

6.根据权利要求4或5所述的方法，其中，所述步骤b2′还包括如下步骤：

-对所述经选择后的部分工艺数据进行分类处理，以使得不同性质的工艺数据可以被区分。

7.根据权利要求4至6中任一项所述的方法，其中，所述步骤b2′还包括如下步骤：

-对所述经选择后的部分工艺数据进行计算，并将计算结果作为工艺数据作为所述解析后的工艺数据。

8.根据权利要求4至7中任一项所述的方法，其中，所述步骤b2′还包括如下步骤：

-对所述经选择后的部分工艺数据进行精度处理，以使得工艺数据符合所述统计过程分析装置所要求的精度。

9.根据权利要求4至8中任一项所述的方法，其中，所述步骤b2′还包括如下步骤：

-对所述经选择后的部分工艺数据进行偏差校正处理，以使得存在偏差的工艺数据被校正。

10.根据权利要求1至9中任一项所述的方法，其中，所述步骤a包括：

-获取来自多个设备的不同格式的工艺数据；

其中，所述步骤b为：根据预定规则对所述多个设备的不同格式的工艺数据分别进行解析，获得解析后的工艺数据。

11.根据权利要求3至10中任一项所述的方法，其中，所述预定规则包括：

-确定特定设备的规则，其中，仅来自所述特定设备的工艺数据将被选择。

12.根据权利要求11所述的方法，其中，所述预定规则还包括：

-确定特定数据域的规则，其中，仅在来自所述特定设备的工艺数据中的所述特定数据域内的工艺数据将被选择。

13.根据权利要求10至12中任一项所述的方法，其中，所述预定规则还包括：

-确定工艺数据的特定格式的规则，其中，仅符合所述特定格式的工艺数据将被选择。

14.根据权利要求1至13中任一项所述的方法，其中，所述步骤c还包括步骤：

-将所述解析后的工艺数据保存至数据存储装置。

15.一种在液晶屏生产过程中用于辅助进行统计过程控制的装置，其中，包括：

获取装置，用于获取所述生产过程中一个或多个加工设备的工艺数据；

解析装置，用于对所述工艺数据进行解析，获得解析后的工艺数据；以及

传输装置，用于将所述解析后的工艺数据发送给统计过程控制装置。

16.根据权利要求15所述的装置，其中，所述解析装置还包括：

第一解析装置，用于根据预定规则对所述工艺数据进行解析，获得解析后的工艺数据。