技术领域
本发明涉及一种物体光谱测量方法，尤其是涉及一种非荧光物体光谱测量的非分光全静态方法。
背景技术
在现代工业、农业、贸易、医学、科学研究和日常生活等许多领域中，存在大量物体光谱测量问题。例如在可见光波段，测定物体的反射、透射光谱可精确计算物体色；在红外波长范围，利用吸收光谱法可定性或定量分析物体的有机物或无机物成分。
光谱测量需要采用波长分离技术进行分光。现有的分光技术都需要利用某种光学元部件，如棱镜、光栅、干涉仪、滤光片、光纤等。
采用光学元部件进行分光存在以下问题：
1、光学元部件制造工艺及光路结构复杂，设备加工、装配精度要求高，造成测量设备体积庞大，价格昂贵。
2、对使用环境要求较高，有的仪器甚至要求严格的恒温恒湿，不适于在环境条件较差的场合使用。
发明内容
本发明的目的就在于解决现有光谱测量方法存在的光路结构复杂、体积庞大，对环境要求高等问题，从而提供一种结构简单、体积小、对环境要求不高的非荧光物体光谱测量的非分光全静态方法。
本发明的目的可通过以下措施来实现：
本发明测量方法如下：
对于反射光谱的测量：
若需要测定某一波段N个波长范围(λn，n＝1，2，3，...，N)的光谱反射因数，具体方法为：
第一步骤：选择反射样品的照明和观测条件，测定照明体在控制变量im控制下在这一波段的光谱功率分布P(λ，im)，P(λ，im)为照明体在控制变量为im时的光谱功率分布矩阵，
