[发明专利]非荧光物体光谱测量的非分光全静态方法无效

专利信息
申请号: 200610106921.1 申请日: 2006-08-24
公开(公告)号: CN101131349A 公开(公告)日: 2008-02-27
发明(设计)人: 杨红卫;周展明 申请(专利权)人: 河南工业大学
主分类号: G01N21/25 分类号: G01N21/25;G06F19/00
代理公司: 郑州中原专利事务所有限公司 代理人: 霍彦伟
地址: 450052河南省郑州市*** 国省代码: 河南;41
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摘要:
搜索关键词: 荧光 物体 光谱 测量 分光 静态 方法
【权利要求书】:

1.一种非荧光物体光谱测量的非分光全静态方法,其特征在于:测量方法如下:

对于反射光谱的测量:

若需要测定某一波段N个波长范围(λn,n=1,2,3,...,N)的光谱反射因数,具体方法为:

第一步骤:选择反射样品的照明和观测条件,测定照明体(3)在控制变量im控制下在这一波段的光谱功率分布P(λ,im),P(λ,im)为照明体在控制变量为im时的光谱功率分布矩阵,

<mrow><mi>P</mi><mrow><mo>(</mo><mi>&lambda;</mi><mo>,</mo><msub><mi>i</mi><mi>m</mi></msub><mo>)</mo></mrow><mo>=</mo><mtable><mtr><mtd><mrow><mfenced open='[' close=']'><mtable><mtr><mtd><mi>P</mi><mrow><mo>(</mo><msub><mi>&lambda;</mi><mn>1</mn></msub><mo>,</mo><msub><mi>i</mi><mi>m</mi></msub><mo>)</mo></mrow><mo>,</mo></mtd><mtd><mn>0</mn><mo>,</mo></mtd><mtd><mn>0</mn><mo>,</mo></mtd><mtd><mo>.</mo><mo>.</mo><mo>.</mo><mo>,</mo></mtd><mtd><mn>0</mn></mtd></mtr><mtr><mtd><mn>0</mn><mo>,</mo></mtd><mtd><mi>P</mi><mrow><mo>(</mo><msub><mi>&lambda;</mi><mn>2</mn></msub><mo>,</mo><msub><mi>i</mi><mi>m</mi></msub><mo>)</mo></mrow><mo>,</mo></mtd><mtd><mn>0</mn><mo>,</mo></mtd><mtd><mo>.</mo><mo>.</mo><mo>.</mo><mo>,</mo></mtd><mtd><mn>0</mn></mtd></mtr><mtr><mtd><mn>0</mn><mo>,</mo></mtd><mtd><mn>0</mn><mo>,</mo></mtd><mtd><mi>P</mi><mrow><mo>(</mo><msub><mi>&lambda;</mi><mn>3</mn></msub><mo>,</mo><msub><mi>i</mi><mi>m</mi></msub><mo>)</mo></mrow><mo>,</mo></mtd><mtd><mo>.</mo><mo>.</mo><mo>.</mo><mo>,</mo></mtd><mtd><mn>0</mn></mtd></mtr><mtr><mtd><mo>.</mo><mo>.</mo><mo>.</mo></mtd><mtd><mo>.</mo><mo>.</mo><mo>.</mo></mtd><mtd><mo>.</mo><mo>.</mo><mo>.</mo></mtd><mtd><mo>.</mo><mo>.</mo><mo>.</mo></mtd><mtd><mo>.</mo><mo>.</mo><mo>.</mo></mtd></mtr><mtr><mtd><mn>0</mn><mo>,</mo></mtd><mtd><mn>0</mn><mo>,</mo></mtd><mtd><mn>0</mn><mo>,</mo></mtd><mtd><mo>.</mo><mo>.</mo><mo>.</mo><mo>,</mo></mtd><mtd><mi>P</mi><mrow><mo>(</mo><msub><mi>&lambda;</mi><mi>N</mi></msub><mo>,</mo><msub><mi>i</mi><mi>m</mi></msub><mo>)</mo></mrow></mtd></mtr></mtable></mfenced><mo>-</mo><mo>-</mo><mo>-</mo><mrow><mo>(</mo><mi>v</mi><mo>)</mo></mrow></mrow></mtd></mtr></mtable></mrow>

其中m=1,2,3,..,M,并且M≥N;

第二步骤:选择光电传感器(7)的工作点,使其在选择的照明和观测条件下,在这一波段工作在线性范围,即光电传感器的光谱响应向量r为常向量,与入射光通量大小无关,测定r,

r=[r(λ1),r(λ2),r(λ3),...,r(λN)]T    (iv)

式中T为向量或矩阵的转置;

第三步骤:计算

A(im)=rTP(λ,im)               (xi)

第四步骤:从M个A(im)向量中选择N个,重新记为A(ij),j=1,2,3,...,N,构造矩阵

<mrow><mi>A</mi><mo>=</mo><mtable><mtr><mtd><mrow><mfenced open='[' close=']'><mtable><mtr><mtd><mi>A</mi><mrow><mo>(</mo><msub><mi>i</mi><mn>1</mn></msub><mo>)</mo></mrow></mtd></mtr><mtr><mtd><mi>A</mi><mrow><mo>(</mo><msub><mi>i</mi><mn>2</mn></msub><mo>)</mo></mrow></mtd></mtr><mtr><mtd><mi>A</mi><mrow><mo>(</mo><msub><mi>i</mi><mn>3</mn></msub><mo>)</mo></mrow></mtd></mtr><mtr><mtd><mo>.</mo><mo>.</mo><mo>.</mo></mtd></mtr><mtr><mtd><mi>A</mi><mrow><mo>(</mo><msub><mi>i</mi><mi>N</mi></msub><mo>)</mo></mrow></mtd></mtr></mtable></mfenced><mo>-</mo><mo>-</mo><mo>-</mo><mrow><mo>(</mo><mi>xii</mi><mo>)</mo></mrow></mrow></mtd></mtr></mtable></mrow>

选择A(ij)的原则为:

I、在各种光谱功率分布P(λ,ij)情况下,即使反射样品全反射或全吸收,光电传感器仍工作在线性范围;

II、矩阵A可逆。

计算矩阵A的逆A-1

第五步骤:放置反射样品,在计算机或微处理器(1)控制下,控制变量ij依次变化,j=1,2,3,...,N,得到光电传感器在这一波段相应的响应向量R

R=[R(i1),R(i2),R(i3),...,R(iN)]T    (xiii)

第六步骤:根据

<mrow><mi>&rho;</mi><mo>=</mo><mfrac><mn>1</mn><mi>&Delta;&lambda;</mi></mfrac><msup><mi>A</mi><mrow><mo>-</mo><mn>1</mn></mrow></msup><mi>R</mi><mo>-</mo><mo>-</mo><mo>-</mo><mrow><mo>(</mo><mi>x</mi><mo>)</mo></mrow></mrow>

计算反射样品的光谱反射因数向量ρ,其中Δλ为波长间隔,

ρ=[ρ(λ1),ρ(λ2),ρ(λ3),...,ρ(λN)]T    (vi)

以后反射样品的光谱反射因数向量ρ的测量重复第五步骤与第六步骤即可。

对于透射光谱的测量:

测量光谱透射比的方法与上述反射光谱的测量方法相同,其中只是采用了透射样品的照明和观测条件,且将以上各式中的光谱反射因数变为光谱透射比;

对于吸收光谱的测量:

首先采用上述透射光谱的测量方法测量光谱透射比,根据物体的光谱透射比即可计算出其吸光度或吸收光谱。

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