[发明专利]可同时多颗平行置入测试的IC检测机

权利要求书

1.一种可同时多颗平行置入测试的IC检测机，其特征在于：其包括有：

至少一供料匣：承置有复数个待测的IC；

至少一收料匣：供承置完测的IC；

至少一测试埠：所述的测试埠的下方装设有连结测试讯号到中央控制器的测试板，所述的测试板上并设有可供待测IC置入以进行IC的测试作业的复数个测试座，另在测试埠内是设有可升降的下压机构；

轨道传送机构：是架设在测试埠的周侧，并在所述轨道传送机构上分别区分有入料区、测试区与出料区；

至少一载送治具：是承置在轨道传送机构上，而可由轨道传送机构移送到所述入料区、所述测试区与所述出料区，以进行入料、测试与出料作业，所述的载送治具并排列设有可以同时承置多颗IC且开设有贯通孔的复数个承置座，而在所述下压机构下压时可使IC下降，并令IC接脚接触到测试板的各测试座接点，以进行测试作业；

至少一IC输送机构：是设有可作多方向位移而可在供料匣、收料匣与载送治具之间吸取移置IC的取放头。

2.根据权利要求1所述的可同时多颗平行置入测试的IC检测机，其特征在于：所述的测试埠内的测试板上的测试座数量，是可对应载送治具的承置座的数量。

3.根据权利要求1所述的可同时多颗平行置入测试的IC检测机，其特征在于：所述的载送治具的承置座在贯通孔的周侧以弹性件架设支撑框架，在支撑框架上方承置IC。

4.根据权利要求1所述的可同时多颗平行置入测试的IC检测机，其特征在于：所述的载送治具的承置座内是开设有贯通孔，并在治具的框围设弹性件。

5.根据权利要求1所述的可同时多颗平行置入测试的IC检测机，其特征在于：所述的载送治具是包括有第一载送治具、第二载送治具与第三载送治具，而以多组的载送治具作循环的搭配使用。

6.根据权利要求1所述的可同时多颗平行置入测试的IC检测机，其特征在于：所述的IC输送机构的取放头是设有可以同时吸取移置多颗的IC的复数支吸嘴。

7.根据权利要求1所述的可同时多颗平行置入测试的IC检测机，其特征在于：所述的IC输送机构是包括有将待测IC由供料匣吸取移置到载送治具的输入端IC输送机构以及将完测IC由载送治具吸取移置到收料匣的输出端IC输送机构。

8.根据权利要求1项所述的可同时多颗平行置入测试的IC检测机，其特征在于：所述的收料匣是区分有良品收料匣与不良品收料匣。