[发明专利]半导体封装件及其制法无效
| 申请号: | 200610082587.0 | 申请日: | 2006-05-18 |
| 公开(公告)号: | CN101075566A | 公开(公告)日: | 2007-11-21 |
| 发明(设计)人: | 陈佳庆;余正宗;魏宏吉;张智厚;李焕翔 | 申请(专利权)人: | 矽品精密工业股份有限公司 |
| 主分类号: | H01L21/50 | 分类号: | H01L21/50;H01L21/56;H01L21/60;H01L21/78;H01L23/488;H01L23/31;H01L25/16;G06K19/077 |
| 代理公司: | 北京纪凯知识产权代理有限公司 | 代理人: | 程伟 |
| 地址: | 台湾省*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
| 权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 半导体 封装 及其 制法 | ||
1.一种半导体封装件的制法,其特征在于,该半导体封装件的制法包括:
提供水平排列多个管脚的导线架及预设多个电性连接垫的电路板,其中各该管脚具有一平坦部及一从该平坦部向下弯折的接触部;
将这些管脚的接触部电性连接到该电路板的电性连接垫上,以及在该电路板表面接置并电性连接电子元件;
在该电路板上形成包覆该导线架及电子元件的封装胶体,且使该管脚的平坦部露出该封装胶体;以及
沿该电路板周围进行切割作业,使切割路径通过该导线架的各该管脚,使各该管脚电性独立。
2.如权利要求1所述的半导体封装件的制法,其特征在于,该半导体封装件的制法还包括将该完成切割的封装件容置在一壳体中,构成通用串行总线存储卡。
3.如权利要求1所述的半导体封装件的制法,其特征在于,该管脚厚度为0.38±0.13mm。
4.如权利要求1所述的半导体封装件的制法,其特征在于,该管脚露出封装胶体的平坦部作为USB存储卡的电性接触端。
5.如权利要求1所述的半导体封装件的制法,其特征在于,该导线架具有四支管脚,中间两支管脚形成向下弯折部或凹部。
6.如权利要求5所述的半导体封装件的制法,其特征在于,该封装胶体填充至该弯折部或凹部,使中间两支管脚露出封装胶体的平坦部,比两侧管脚露出封装胶体的平坦部短。
7.如权利要求1所述的半导体封装件的制法,其特征在于,该电子元件可以是半导体芯片和被动元件。
8.如权利要求1所述的半导体封装件的制法,其特征在于,这些管脚以一导轨连接。
9.如权利要求1所述的半导体封装件的制法,其特征在于,该导线架具有一平坦部及从该平坦部相对两侧向下延伸的接触部,同时在该导线架的至少一侧形成有多个水平分支的管脚,使各该管脚具有一平坦部及从该平坦部向下延伸的接触部。
10.如权利要求1所述的半导体封装件的制法,其特征在于,该制法可以批次或单颗方式进行。
11.一种半导体封装件,其特征在于,该半导体封装件包括:
电路板,该电路板上设有多个电性连接垫;
导线架,该导线架具有多个水平排列的管脚,且各该管脚具有一平坦部及一从该平坦部向下弯折的接触部,其中该管脚通过该接触部接置并电性连接到该电路板的电性连接垫;
电子元件,接置并电性连接到该电路板表面;以及
封装胶体,形成于该电路板上,包覆该导线架及电子元件,并使该管脚的平坦部露出该封装胶体。
12.如权利要求11所述的半导体封装件,其特征在于,该半导体封装件还包括一将该封装件容置其中的壳体,构成通用串行总线存储卡。
13.如权利要求11所述的半导体封装件,其特征在于,该管脚厚度为0.38±0.13mm。
14.如权利要求11所述的半导体封装件,其特征在于,该管脚露出封装胶体的平坦部作为USB存储卡的电性接触端。
15.如权利要求11所述的半导体封装件,其特征在于,该导线架具有四支管脚,中间两支管脚形成向下弯折部或凹部。
16.如权利要求15所述的半导体封装件,其特征在于,该封装胶体填充至该弯折部或凹部。
17.如权利要求15所述的半导体封装件,其特征在于,该中间两支管脚露出封装胶体的平坦部,比两侧管脚露出封装胶体的平坦部短。
18.如权利要求11所述的半导体封装件,其特征在于,该电子元件可以是半导体芯片和被动元件。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于矽品精密工业股份有限公司,未经矽品精密工业股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/200610082587.0/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 同类专利
- 专利分类
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造





