[发明专利]光锥与CCD耦合的自动对准方法无效

专利信息
申请号: 200610042630.0 申请日: 2006-04-07
公开(公告)号: CN101051107A 公开(公告)日: 2007-10-10
发明(设计)人: 田维坚;张宏建;王耀祥;张薇;冯桂兰 申请(专利权)人: 中国科学院西安光学精密机械研究所
主分类号: G02B7/00 分类号: G02B7/00;G01B9/04
代理公司: 西安智邦专利商标代理有限公司 代理人: 徐平
地址: 710068陕*** 国省代码: 陕西;61
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摘要:
搜索关键词: ccd 耦合 自动 对准 方法
【权利要求书】:

1.一种光锥与CCD耦合的自动对准方法,其特征在于:该方法的实现步骤包括:

1)将光锥(3)与光电耦合器件(4)稳定地夹持在精密调节架(10)上;

2)手动粗调:

(1)手动调节透镜组(2)的像面,使调节透镜组(2)的像面与光锥(3)的端面重合;

(2)手动调节光电耦合器件(4),使光电耦合器件(4)的靶面与光锥(3)的端面平行,并将光电耦合器件(4)的位置确定为粗调位置;

3)自动精调:

(1)以粗调位置为坐标原点;

(2)通过计算机控制系统(11)控制步进电机(9),动步进电机(9)驱动调节光电耦合器件(4),使电耦合器件(4)的靶面位置分别沿X、Y、Z轴方向旋转和平移;

(3)计算机控制系统(11)实时记录光电耦合器件(4)的采样图像序列及坐标位置;

(4)通过计算机控制系统(11)的自动对焦系统(7)对所采集的图像序列进行处理、分析,在图像序列中找出成像最清晰的图像,确定与之相应的光锥(3)与光电耦合器件(4)的最佳耦合位置,得到光锥(3)与光电耦合器件(4)最佳耦合位置的坐标值;

(5)计算机控制系统(11)用光锥(3)与光电耦合器件(4)最佳耦合位置的坐标值反馈控制步进电机(9),步进电机(9)驱动光电耦合器件(4),使光电耦合器件(4)与光锥(3)耦合对准;

4)用光学粘接剂将光锥(3)与光电耦合器件(4)粘合,完成耦合。

2.根据权利要求1所述的光锥与CCD耦合的自动对准方法,其特征在于:所述的通过计算机控制系统(11)的自动对焦系统(7)对所采集的图像序列进行处理、分析,具体实现步骤如下:

1)采用罗伯特算子的图像处理算法;

2)确定罗伯特算子的检测结果f;

3)对采集及图像序列进行处理、分析,在图像序列中找出成像最清晰的图像,得到最佳耦合位置坐标值。

3.根据权利要求1所述的光锥与CCD耦合的自动对准方法,其特征在于:所述的通过计算机控制系统(11)的自动对焦系统(7)对所采集的图像序列进行处理、分析,具体实现步骤如下:

1)采用索伯尔算子的图像处理算法;

2)确定索伯尔算子的检测结果f;

3)对采集及图像序列进行处理、分析,在图像序列中找出成像最清晰的图像,得到最佳耦合位置坐标值。

4.根据权利要求1所述的光锥与CCD耦合的自动对准方法,其特征在于:所述的通过计算机控制系统(11)的自动对焦系统(7)对所采集的图像序列进行处理、分析,具体实现步骤如下:

1)采用罗伯特算子与索伯尔算子相结合的图像处理算法;

2)确定罗伯特算子的初始检测结果f1,索伯尔算子的初始检测结果f2;

3)计算罗伯特算子的权值ω1: ω 1 = Σ f 1 Σ f 1 + Σ f 2 ; ]]>

计算索伯尔算子的权值ω2:ω2=1-ω1

4)采用权值融合的方法构造评价函数:f=ω1∑f12∑f2

5)根据构造的评价函数对采集及图像序列进行处理、分析,在图像序列中找出成像最清晰的图像,得到最佳耦合位置坐标值。

5.根据权利要求1-4之一所述的光锥与CCD耦合的自动对准方法,其特征在于:所述的计算机控制系统(11)实时记录光电耦合器件(4)的采样图像序列及坐标位置,该采样图像序列及坐标位置的采样频率为0.5μm。

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