[发明专利]光锥与CCD耦合的自动对准方法无效
申请号: | 200610042630.0 | 申请日: | 2006-04-07 |
公开(公告)号: | CN101051107A | 公开(公告)日: | 2007-10-10 |
发明(设计)人: | 田维坚;张宏建;王耀祥;张薇;冯桂兰 | 申请(专利权)人: | 中国科学院西安光学精密机械研究所 |
主分类号: | G02B7/00 | 分类号: | G02B7/00;G01B9/04 |
代理公司: | 西安智邦专利商标代理有限公司 | 代理人: | 徐平 |
地址: | 710068陕*** | 国省代码: | 陕西;61 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | ccd 耦合 自动 对准 方法 | ||
1.一种光锥与CCD耦合的自动对准方法,其特征在于:该方法的实现步骤包括:
1)将光锥(3)与光电耦合器件(4)稳定地夹持在精密调节架(10)上;
2)手动粗调:
(1)手动调节透镜组(2)的像面,使调节透镜组(2)的像面与光锥(3)的端面重合;
(2)手动调节光电耦合器件(4),使光电耦合器件(4)的靶面与光锥(3)的端面平行,并将光电耦合器件(4)的位置确定为粗调位置;
3)自动精调:
(1)以粗调位置为坐标原点;
(2)通过计算机控制系统(11)控制步进电机(9),动步进电机(9)驱动调节光电耦合器件(4),使电耦合器件(4)的靶面位置分别沿X、Y、Z轴方向旋转和平移;
(3)计算机控制系统(11)实时记录光电耦合器件(4)的采样图像序列及坐标位置;
(4)通过计算机控制系统(11)的自动对焦系统(7)对所采集的图像序列进行处理、分析,在图像序列中找出成像最清晰的图像,确定与之相应的光锥(3)与光电耦合器件(4)的最佳耦合位置,得到光锥(3)与光电耦合器件(4)最佳耦合位置的坐标值;
(5)计算机控制系统(11)用光锥(3)与光电耦合器件(4)最佳耦合位置的坐标值反馈控制步进电机(9),步进电机(9)驱动光电耦合器件(4),使光电耦合器件(4)与光锥(3)耦合对准;
4)用光学粘接剂将光锥(3)与光电耦合器件(4)粘合,完成耦合。
2.根据权利要求1所述的光锥与CCD耦合的自动对准方法,其特征在于:所述的通过计算机控制系统(11)的自动对焦系统(7)对所采集的图像序列进行处理、分析,具体实现步骤如下:
1)采用罗伯特算子的图像处理算法;
2)确定罗伯特算子的检测结果f;
3)对采集及图像序列进行处理、分析,在图像序列中找出成像最清晰的图像,得到最佳耦合位置坐标值。
3.根据权利要求1所述的光锥与CCD耦合的自动对准方法,其特征在于:所述的通过计算机控制系统(11)的自动对焦系统(7)对所采集的图像序列进行处理、分析,具体实现步骤如下:
1)采用索伯尔算子的图像处理算法;
2)确定索伯尔算子的检测结果f;
3)对采集及图像序列进行处理、分析,在图像序列中找出成像最清晰的图像,得到最佳耦合位置坐标值。
4.根据权利要求1所述的光锥与CCD耦合的自动对准方法,其特征在于:所述的通过计算机控制系统(11)的自动对焦系统(7)对所采集的图像序列进行处理、分析,具体实现步骤如下:
1)采用罗伯特算子与索伯尔算子相结合的图像处理算法;
2)确定罗伯特算子的初始检测结果f1,索伯尔算子的初始检测结果f2;
3)计算罗伯特算子的权值ω1:
计算索伯尔算子的权值ω2:ω2=1-ω1;
4)采用权值融合的方法构造评价函数:f=ω1∑f1+ω2∑f2;
5)根据构造的评价函数对采集及图像序列进行处理、分析,在图像序列中找出成像最清晰的图像,得到最佳耦合位置坐标值。
5.根据权利要求1-4之一所述的光锥与CCD耦合的自动对准方法,其特征在于:所述的计算机控制系统(11)实时记录光电耦合器件(4)的采样图像序列及坐标位置,该采样图像序列及坐标位置的采样频率为0.5μm。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院西安光学精密机械研究所,未经中国科学院西安光学精密机械研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/200610042630.0/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。