[发明专利]用于通过结合探测和无接触整体测量而测量镜片的光焦度的方法和设备

说明书

技术领域

本发明总体涉及在框架中安装一副视力校正眼镜的镜片，具体是，涉 及一种用于制备要安装到由用户选择的框架中的一副眼镜的镜片的方法和 设备，并且包括用于与探测器装置结合而执行对镜片的局部光学特性的整 体无接触光学测量的装置。

背景技术

已知各种测量设备，它们或者自动工作或者手动工作，用于通过进行 光学分析，而无接触地在镜片被安装在框架前或后测量和检测单焦或者渐 进多焦镜片的各种特性，特别是其光焦度和定中心或者识别特性，以产生 整体映射。具体上，从文献法国专利2825466(其等同于在2003年1月 23日公开的美国专利2003/0015649)已知一种这样的设备。在这种测量设 备中，在照射装置和分析装置之间提供镜片，以便获得其一个或多个光学 特性的映射。可以通过如在上述文献中的(哈特曼、莫阿等类型的)偏度 测量、干涉测量、或波传播等而获得所述光学映射。用户界面然后可以不 仅显示光学中心或者参考，而且显示在镜片的一个或多个特殊点的光焦度 和/或轴向方向的映射。

通过映射分析而工作的无接触整体光学测量设备的优点在于，其在使 用上的灵活性和其可以被自动化的方式。

但是，该测量设备的主要缺点在于，其精度较为不足，特别是当测量 局部光焦度时。在精度上的性能显著变差，特别是与前焦距计型的通过端 片来进行局部测量的设备相比较。

发明内容

本发明的目的

本发明的目的是提出一种镜片测量方法和设备，其具有用于测量局部 光学特性的先进功能，并且同时提供：

使用上的大的灵活性和多用性，使得能够在镜片上的任何关注的测量 点和对于任何类型的镜片测量局部光学特性；以及

高测量精度。

为此，本发明提供了一种用于在测量点测量镜片的局部光焦度的方法， 所述方法包括：无接触地光学测量在围绕所述镜片的所述测量点而限定的 局部区域中所述镜片的至少一个折射光学特性的局部值的步骤，以及至少 一个探测所述镜片的步骤，在此期间，确定在所述镜片的表面之一上的所 述测量点的轴向位置；以及，将通过探测而获得的所述测量点的轴向位置 与从所述无接触光学测量确定的在所述测量点的镜片的光学特性的局部值 结合，以便推导出在所述测量点的所述镜片的至少一个顶焦度。

术语“局部”用于表示，与镜片的直径相比，关注的围绕所述测量点 的测量和分析的所述区域的尺寸较小。在实践中，这样的局部区域具有几 毫米(5毫米-20毫米)量级的直径或者边。

在选择了关注的点之后，则在所述点探测所述镜片以确定它们的位置。 所述探测可以是用于通过接触或者不接触方式确定关注的测量点的位置的 任何方法。

然后将通过探测而获得的位置与通过所述光学测量而获得的关注的测 量点的光学特性的局部值结合，以便从其推导出在关注的每个测量点的眼 光焦度的精确值。

在一种有益的实现方式中，所述镜片的折射光学特性的局部值的光学 测量包括：

整体光学测量步骤，在此期间，在围绕所述镜片的多个点的多个局部 区域测量所述光学特性的局部值，所述镜片的多个点包括关注的测量点和 其他点；

选择步骤，用于选择对于所述镜片期望的测量点；以及

推导步骤，用于从整体测量推导出在所述镜片的所述测量点的光学特 性的局部值。

术语“整体”测量用于表示将所述镜片在其有效范围的主要部分(通 常是具有至少20毫米的边或者半径的区域)上读取或者检测多个点上的其 一个光学特性，而不是像当通过前焦距计进行测量时那样仅仅在小尺寸的 局部区域上测量。被探测的光学特性的整体映射仅仅需要由任何发光装置 成像、投影和产生，所述发光装置适于在分析装置上显示期望的光学特性。 需要将其全部地计算、分析、显示或者打印，以便建立直接可使用的完整 映射。不必使得其全部被用户获得，重要的是，由所述分析装置探测的整 体光学分析图像使得能够不用移动镜片地从在单个分析操作中的镜片的一 个或多个关注的点选择和提取至少一个局部值。

可以明白，这结合了几个优点：

在单个操作中执行光学测量，而不移动镜片并且不与其接触，并且在 其范围上的一个或多个任意点(如用于远视和近似的参考点)如此进行； 足够的是，将所述镜片置于所述照射装置和分析装置之间，以便利用与一 个或多个其光学特性相关联的映射获得可能的整体分析；以及