[发明专利]用于通过结合探测和无接触整体测量而测量镜片的光焦度的方法和设备

权利要求书

1.一种用于在测量点测量镜片的局部顶焦度的方法，所述方法包括： 将镜片放置在支架上的步骤；以及无接触地光学测量在围绕所述镜片的所 述测量点而限定的局部区域中的所述镜片的焦点位置的局部值的步骤，所 述方法的特征在于，还包括：至少一个通过与所述支架不同的探测器装置 探测所述镜片的步骤，在此期间，确定在所述镜片的表面之一上的所述测 量点的轴向位置；以及，将通过探测而获得的所述测量点的轴向位置与从 所述无接触地光学测量确定的在所述测量点的镜片的焦点位置的局部值结 合，以便推导出在所述测量点的所述镜片的至少一个顶焦度。

2.根据权利要求1的方法，其中，光学测量所述镜片的焦点位置的局 部值包括：

整体光学测量步骤，在此期间，在围绕所述镜片的多个点的多个局部 区域测量所述焦点位置的局部值，所述镜片的多个点包括关注的测量点和 其他点；

选择步骤，用于选择对于所述镜片的期望的测量点；以及

推导步骤，用于从所述整体光学测量推导出在所述镜片的所述测量点 的焦点位置的局部值。

3.根据权利要求1的方法，其中，所述探测器装置在镜片的至少一个 基本轴向的方向上可相对于所述支架移动。

4.根据权利要求3的方法，其中，所述探测器装置还在所述镜片的基 本横向方向上可移动。

5.根据权利要求1的方法，其中，在所述镜片的后表面上探测所述测 量点。

6.根据权利要求1的方法，其中：

在所述测量步骤期间，确定在所述镜片的测量点的镜片的顶焦度的近 似值；以及

根据通过探测获得的所述测量点的位置，校正通过测量获得的所述镜 片的顶焦度的近似值。

7.根据权利要求1的方法，其中，所述镜片的测量点的轴向位置是用 于确定在所述测量点的顶焦度的镜片的测量点的唯一几何特性。

8.一种用于自动制备要安装的镜片的方法，所述方法包括根据在前的 权利要求中任一项的方法，并且还包括在切除装置(6)上阻滞所述镜片的 步骤和切割所述镜片的步骤，对所述镜片的探测包括在所述切除装置上阻 滞所述镜片之前的第一探测步骤。

9.一种用于在测量点测量镜片(L1，L2，L3)的局部顶焦度的设备， 所述设备包括：无接触光学测量装置(5)，其适于发送这样的信号，所述 信号至少表示在围绕所述镜片的所述测量点而限定的局部区域上的所述镜 片的焦点位置的局部值；以及电子和计算机处理器系统(100)，其适于处 理由所述无接触光学测量装置(5)发送的所述信号，并且所述设备的特征 在于：其还包括用于接纳所述镜片的支架和探测器装置(7)，所述探测器 装置(7)不同于所述支架并用于探测所述镜片，并且适于确定在所述镜片 的表面之一上的所述测量点的轴向位置；以及，所述电子和计算机处理器 系统(100)包括计算指令，用于将通过探测而获得的所述测量点的轴向位 置与由所述电子和计算机处理器系统(100)根据由所述无接触光学测量装 置(5)发送的所述信号而确定的在所述测量点的镜片的所述焦点位置的局 部值结合，以从其推导出在所述测量点的所述镜片的至少一个顶焦度。

10.根据权利要求9的设备，其中，所述无接触光学测量装置(5)适 于发送这样的信号，所述信号表示整体光学测量，所述整体光学测量具有 在围绕所述镜片的多个点的多个局部区域上的焦点位置的局部值，所述多 个点包括关注的测量点和其他点，所述电子和计算机处理器系统(100)适 于处理由所述无接触光学测量装置(5)发送的所述信号，以选择所述镜片 的期望的测量点，以从所述整体光学测量推导出在所述镜片的所述测量点 的所述焦点位置的局部值。

11.根据权利要求9的设备，其中所述探测器装置在所述镜片的至少 一个基本轴向的方向上可相对于所述支架移动。

12.根据权利要求11的设备，其中，所述探测器装置(7)还在所述 镜片的基本横向的方向上可移动。