[发明专利]信息记录介质及其制造方法无效

专利信息
申请号: 200580040945.5 申请日: 2005-10-14
公开(公告)号: CN101069238A 公开(公告)日: 2007-11-07
发明(设计)人: 槌野晶夫;西原孝史;儿岛理惠 申请(专利权)人: 松下电器产业株式会社
主分类号: G11B7/257 分类号: G11B7/257;G11B7/26;G11B7/254
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 代理人: 汪惠民
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 信息 记录 介质 及其 制造 方法
【权利要求书】:

1.一种信息记录介质,其中,

是一种对信息进行记录或再生的信息记录介质,并具有包含Ce-F的层。

2.根据权利要求1所述的信息记录介质,其特征在于,

所述含Ce-F的层,是电介质层。

3.根据权利要求2所述的信息记录介质,其特征在于,

顺次具有基板、反射层、所述电介质层、记录层,

并以所述反射层与所述电介质层相接触的方式构成。

4.根据权利要求2所述的信息记录介质,是一种含有两层以上的信息层的信息记录介质,其特征在于,

至少1层信息层中,顺次具有基板、反射层、所述电介质层、记录层;

并以所述反射层与所述电介质层相接触的方式构成;

所述两层以上的信息层,被光学分离层所互相分离。

5.根据权利要求2~4中任一项所述的信息记录介质,其特征在于,

所述电介质层,含有10mol%以上的Ce-F。

6.根据权利要求2~5中任一项所述的信息记录介质,其特征在于,

所述电介质层,还含有电介质材料D1,该电介质材料D1是从Al、Si、Ti、Zn、Ga、Y、Zr、In、La、Ce、Dy、Yb、Hf以及Ta中所选择出的至少一种元素的氧化物。

7.根据权利要求6所述的信息记录介质,其特征在于,

所述电介质层,还含有电介质材料D1,该电介质材料D1是从Si、Ga、Y、Zr、In、Dy、Hf以及Ta中所选择出的至少一种元素的氧化物。

8.根据权利要求5或7所述的信息记录介质,其特征在于,

所述电介质层,由式:(Ce-F)x1D1100-x1所表示,

x1满足10≤x1≤90。

9.根据权利要求2~5中任一项所述的信息记录介质,其特征在于,

所述电介质层,还含有电介质材料D2,该电介质材料D2是从Al、B、Y以及Si中所选择出的至少一种元素的氮化物。

10.根据权利要求9所述的信息记录介质:

所述电介质层,由式:(Ce-F)x1D2100-x1所表示,

x1满足10≤x1≤90。

11.根据权利要求2~5中任一项所述的信息记录介质,其特征在于,

所述电介质层,还含有电介质材料D3,该电介质材料D3是从Mg、Y、La、Gd、Tb以及Yb中所选择出的至少一种元素的氟化物。

12.根据权利要求11所述的信息记录介质,其特征在于,

所述电介质层,还含有电介质材料D3,该电介质材料D3是从Y以及La中所选择出的至少一种元素的氟化物。

13.根据权利要求11或12所述的信息记录介质,其特征在于,

所述电介质层,由式:(Ce-F)x1D3100-x1所表示,

x1满足10≤x1≤90。

14.根据权利要求2~5中任一项所述的信息记录介质,其特征在于,

所述电介质层,具有从以下电介质材料的任一种中选择出的多种电介质材料:电介质材料D1,其为从Al、Si、Ti、Zn、Ga、Y、Zr、In、La、Ce、Dy、Yb、Hf和Ta中所选择出的至少一种元素的氧化物;电介质材料D2,其为从Al、B、Y和Si中选择出的至少一种元素的氮化物;以及电介质材料D3,其为从Mg、Y、La、Gd、Tb和Yb中选择出的至少一种元素的氟化物。

15.根据权利要求14所述的信息记录介质,其特征在于,

所述电介质层,由式:(Ce-F)x1D1x2D100-x1-x2所表示,其中,D表示从所述电介质材料D2和所述电介质材料D3中选择出的至少1种电介质材料,

x1、x2满足10≤x1≤90以及50≤x1+x2<100。

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