[其他]高跨导高厄利(Early)电压模似(MOS)晶体管在审

专利信息
申请号: 101986000000192 申请日: 1986-01-12
公开(公告)号: CN1005884B 公开(公告)日: 1989-11-22
发明(设计)人: 马龙;钱其璈 申请(专利权)人: 南开大学
主分类号: 分类号:
代理公司: 南开大学专利事务所 代理人: 耿锡锟
地址: 天津市南开区*** 国省代码: 天津;12
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摘要:
搜索关键词: 高跨导高厄利 early 电压 mos 晶体管
【说明书】:

高跨导高Early电压的Mos晶体管--HGET,属于一族新型半导体集成器件。它能在常规的MOS工艺下制造出跨导为20~40mV,Early电压为40~50V的器件。这种器件放大器的电压增益可达57db,它的等效电路是由两个MOS管和一个双极型晶体管复合构成,它的工艺简单,又能比普通的MOS器件的芯片面积小β倍,用于模拟电路中即能获得高增益,又因互补作用,能灵活满足不同电路的设计要求。

高跨导高厄利(Early)电压模拟(MOS)晶体管,简称HGET。属于-族新型半导体集成器件。(以下称厄利为Early、模拟为MOS)

为了使MOS器件有源负载单极放大器得到高增益,必须提高MOS管的跨导和输出阻抗。有一种现行的高跨导晶体管,是由一个MOS晶体管和一个双极型晶体管按达林顿式复合成(如图1的A),这种晶体管的跨导可以达到20mU,但它们Early电压很低,约小于5伏。另一种现行的高输出阻抗MOS晶体管,是由两个MOS晶体管按共源-共栅形式复合而成(如图1的B),这种晶体管输出阻抗很高(几十KΩ~几百KΩ),但它的跨导比较低,约小于10mu。现行的这两种晶体管的缺点是:或是高跨导低输出阻抗,或是低跨导高输出阻抗,不能作到既高跨导,又高输出阻抗。

本发明的高跨导,高Early电压晶体管,是将上述两种晶体管的高跨导和高Early电压的优点结合在一起,并发明了新的结构和版图,经检索国内外技术资料和专利文献HOIL,没有我所发明的高跨导高Early电压晶体管,即HGET。

本发明的目的是提供一种高跨导高Early电压的MOS晶体管,其制造工艺能够和长沟(大于3微米)的MOS器件工艺相容。这样就可以用普通MOS工艺制作出高增益器件。

HGET是把上述两种,高跨导(图1A)和高Early电压(图1B)两种晶体管的优点结合起来,作成一类新的半导体集成器件,它们的等效电路如附图2,3所示。它的特点是在现行的高跨导MOS晶体管(图1A所示)的输出端接一个耗尽型、共栅接法的MOS管。根据不同的晶体管类型和不同的复合方式,HGET有下述四种:

(一)两个NMOS晶体管M1、M2和一个npn双极型晶体管Q复合,如图2A。

(二)两个PMOS晶体管M1、M2和一个PNP双极型晶体管Q复合,如图2B。

这两种HGET管是互补的,其等效电路的特征是:M1的漏极、M2的源极和Q的集电极短接,M1的源极和Q的基极短接,M2的栅极和Q的发射极短接。对外引出三端是M2的源极,M1的栅极和Q的发射极分别作为HGET的D、G、S三端。称甲类复合。

(三)两个NMOS晶体管M1、M2和一个PNP双极型晶体管Q复合,如图3A所示。

(四)两个PMOS晶体管M1、M2和一个npn双极型晶体管Q复合,如图3B所示。

(三)和(四)两种HGET也是互补的。其等效电路的特征是:M1的漏极和Q的基极短接,M1的源极、Q的集电极和M2的栅极短接,M2的源极和Q的发射短接。对外引出的三端是M2的漏极,M1的栅极和M1的源极分别作HGET管的D、G、S三端。称乙类复合。

如上所述,在HGET的等效电路中,因M1和Q组成的达林顿式管可以得到高跨导,而其栅极偏置的M2又可有较高的输出阻抗,这样HGET就即有高跨导的性能,又有高Early电压的性能。由于M2的共栅偏置,它能降低由M1和Q的输出导纳和反馈电容,因而HGET有较高的稳究性。HGET是一族半导体器件,它包括了两个互补对,即4种管子,因此它可以灵活地适应于各种不同的电路要求,这是本发明的一个优点。

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