[发明专利]功率金属氧化物半导体场效应晶体管装置及其制造方法无效
申请号: | 03105196.0 | 申请日: | 2003-03-06 |
公开(公告)号: | CN1527403A | 公开(公告)日: | 2004-09-08 |
发明(设计)人: | 涂高维;简凤佐;贡中元 | 申请(专利权)人: | 华瑞股份有限公司 |
主分类号: | H01L29/786 | 分类号: | H01L29/786;H01L21/336 |
代理公司: | 北京三幸商标专利事务所 | 代理人: | 刘激扬 |
地址: | 台湾省台北市中*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 功率 金属 氧化物 半导体 场效应 晶体管 装置 及其 制造 方法 | ||
【权利要求书】:
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