[发明专利]光栅失真校正电路

权利要求书

1.一种有光栅失真校正的偏转装置，包括

偏转线圈(Ly)，它耦连到回描电容器(C1a)，在回描间隔期间形成回描谐振电路，并耦连到跟踪电容器(Cs)，在跟踪间隔期间形成包括所述偏转线圈和所述跟踪电容器的第1跟踪谐振电路；

第1开关半导体(Q1)，在与第1偏转频率(HORIZONTAL)相关的频率处的响应同步的第1信号(50)，和耦连到所述偏转线圈，在与所述的同步第1信号同步的所述偏转线圈中产生偏转电流(ILy)。

调制电感(Lx)，在所述跟踪间隔期间，它耦连在第2跟踪谐振电路(Lx，Cx)中；

在与第2偏转频率(VERTICAL)相关的频率处的调制第2信号(IPcor)源；其特征是，

第2开关半导体(Q2)响应所述第1和第2信号，在所述跟踪间隔的第1部分期间(图3A至3C中T1和T2外边跟踪部分)，有第1开关状态(关)，所述跟踪间隔(T1和T2)的第2部分期间，有第2开关状态(开)，所述跟踪间隔的第1部分和第2部分按所述第2信号变化，耦连到所述调制电感的所述第2开关半导体在所述调制电感和所述跟踪电容器中产生调制电流(Ix)，调制电流(Ix)根据所述第2信号调制所述跟踪电容器中产生的电压(VCs)，以进行光栅失真校正。

2.按权利要求1的有光栅失真校正的偏转装置，其特征是，调制所述跟踪电容器电压(VCs)，以进行S形校正。

3.按权利要求1的有光栅失真校正的偏转装置，其特征是，脉冲宽度调制器(60)响应所述同步第1信号(60b)和所述调制第2信号(IPcor)，以控制所述第2开关半导体(Q2)的所述开关状态。

4.按权利要求1的有光栅失真校正的偏转装置，其特征是，调制电容器(Cx)耦连到所述跟踪电容器(Cs)和所述调制电感(Lx)以在所述跟踪间隔的所述第2部分(图3A-3C所示的T1和T2)期间形成所述第2跟踪谐振电路(Cx，Lx)。

5.按权利要求1的有光栅失真校正的偏转装置，其特征是，东—西方光栅失真校正电路(QEW，LEW)响应在与垂直偏转频率相关的频率处的调制第3信号(E/W-DRIVE)，以进行东—西方光栅失真校正。

6.按权利要求5的有光栅失真校正的偏转装置，其特征是，所述东—西方光栅失真校正电路(QEW，Lew)包括二极管调制器。

7.按权利要求1的有光栅失真校正的偏转装置，其特征是，开关控制器(60)响应所述调制第2信号(IPWR)和反馈信号(Fb)，用于控制负反馈闭合回路中的所述第2开关半导体(Q2)。

8.按权利要求7的有光栅失真校正的偏转装置，其特征是，在所述电流传感器(62)中产生所述反馈信号(Fb)。

9.按权利要求1的有光栅失真校正的偏转装置，其特征是，所述第2开关半导体(Q2)，在所述跟踪间隔(T1和T2)的第2部分期间，把所述调制电感(Lx)耦连到所述跟踪电容器(Cs)，在所述跟踪间隔的第1部分(T1和T2的外边跟踪部分)，使所述调制电感从所述跟踪电容器断开。

10.按权利要求9的有光栅失真校正的偏转装置，其特征是，所述跟踪间隔的第2部分(图3A至3C的T1和T2)位于相对于所述跟踪间隔中心对称的位置。

11.按权利要求9的有光栅失真校正的偏转装置，其特征是，所述跟踪间隔的所述第2部分在每个跟踪间隔期间按不邻接方式配置。

12.按权利要求9的有光栅失真校正的偏转装置，其特征是，所述跟踪间隔的所述第2部分(T1″，T2″，T3″，T4″)相对于所述跟踪间隔中心对称配置。

13.按权利要求1的有光栅失真校正的偏转装置，其特征是，所述第1开关半导体包括第1开关晶体管(Q1)，其中所述第2开关半导体(Q2)包括第2开关晶体管。