[发明专利]薄膜晶体管平面显示器面板的结构及其制造方法有效
| 申请号: | 02123087.0 | 申请日: | 2002-06-13 |
| 公开(公告)号: | CN1388406A | 公开(公告)日: | 2003-01-01 |
| 发明(设计)人: | 石安 | 申请(专利权)人: | 统宝光电股份有限公司 |
| 主分类号: | G02F1/136 | 分类号: | G02F1/136;H01L27/12 |
| 代理公司: | 隆天国际专利商标代理有限公司 | 代理人: | 高龙鑫,楼仙英 |
| 地址: | 台湾省*** | 国省代码: | 台湾;71 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 薄膜晶体管 平面 显示器 面板 结构 及其 制造 方法 | ||
技术领域
本发明涉及一种平面显示器面板的结构及其制造方法,特别是涉及一种薄膜晶体管平面显示器面板的结构及其制造方法。
背景技术
随着制造技术的进展,液晶显示器(Liquid Crystal Display,LCD)已取代传统显象管显示器成为未来显示器主流的趋势,其中又以薄膜晶体管液晶显示器(TFT-LCD)为主。请参见图1,其为一薄膜晶体管液晶显示器中一象素单元的电路示意图,其主要由一薄膜晶体管11所完成的切换单元,一液晶显示单元12与一储存电容13(Storage Capacitor)所构成。而其中储存电容13并联至该液晶显示单元12(其也为一电容),用以增强液晶显示单元12原本不足的电荷储存能力,进而改善薄膜晶体管11关闭时,液晶显示单元12的电压值下降过快的现象。
请参见图2,其为一低温多晶硅薄膜晶体管(Low Temperature PolySilicon Thin Film Transistor,LTPS-TFT)成长于一玻璃基版上的制造工艺步骤示意图。图2(a)表示出于该玻璃基版20上形成一缓冲区21(butterlayer,通常以二氧化硅完成)以及一本质非晶硅(i-a-Si)层后,再利用一激光结晶(laser crystallization)制造工艺,将本质非晶硅(i-a-Si)层转换成一本质多晶硅(i-poly-Si)层22,然后利用一光罩微影制造工艺于该本质多晶硅(i-poly-Si)层22上方形成一光阻罩幕结构23后,对露出的部分进行一N型掺质的植入制造工艺(以As或是P离子完成),进而形成N沟道薄膜晶体管的源/漏极构造221。
请参见图2(b),其为于去除光阻罩幕结构23后,在整个基板上方覆盖上一层绝缘材质(通常以二氧化硅完成),用以形成一栅极绝缘层24,接着于栅极绝缘层24上溅镀(sputtering)上一层栅极导体层后,再以另一光罩微影蚀刻制造工艺来形成所需的栅极导体结构221,然后利用该栅极导体结构221做罩幕,进行一微量N型掺质的植入制造工艺,进而子N沟道薄膜晶体管中形成一轻掺杂漏极结构(Lightly Doped Drain)222。
而上述构造再经后续制造工艺,便形成如图2(c)所示的构造,其中于整个基板上方形成一内层介电材料层(inter-layer dielectrics layer)26后,于适当位置定义出所需的接触孔(contact hole),最后再以溅镀(sputtering)方式形成一层金属导体层并定义出所需的源/漏极接线构造27。
由于上述的低温多晶硅薄膜晶体管结构由传统的底部栅极构造(bottomgate structure)改为顶部栅极结构(top gate structure),因此会具有较佳的元件特性,但是当低温多晶硅薄膜晶体管处于关闭(OFF)的状态时,薄膜晶体管的沟道(channel)仍会受到背光光源的照射而产生大量的光电流(如图2(c)所示),使元件的漏电流大幅上升,这将会使液晶的灰阶变化容易产生误差,而严重影响显示器的品质。
发明内容
本发明的主要目的在于提供一种薄膜晶体管平面显示器面板的结构,以克服上述公知技术的缺陷。
本发明的上述目的是这样实现的:一种薄膜晶体管平面显示器面板的结构,其包含:一透光基板;一缓冲层,形成于该透光基板上;一顶部栅极薄膜晶体管结构,形成于该缓冲层上,其包含一沟道区;以及一遮光结构,该遮光结构的部分区域形成于该沟道区的下方区域,以避免该沟道区受该平面显示器面板的一背光光源照射,且该缓冲层介于该遮光结构与该顶部栅极薄膜晶体管结构之间。
根据上述构想,本发明结构中该透光基板为一玻璃基板。
根据上述构想,本发明结构中该缓冲层选自氮化硅、氧化硅或是其组合所完成。
根据上述构想,本发明结构中该遮光结构以选自铬、鉏、钨等熔点高且不透光物质所完成。
根据上述构想,结构中该顶部栅极薄膜晶体管结构包含:一半导体层,形成于该缓冲层上,其包含该沟道层及一源/漏极结构;一栅极绝缘结构,形成于该半导体层上;一栅极导体结构,形成于该栅极绝缘结构上,且覆盖于该沟道区的上方区域;一介电层,形成于该栅极导体结构及该栅极绝缘结构上;一导体接线结构,形成于该介电层上,且穿越部分该绝缘层与该栅极绝缘结构而与该源/漏极接触。
根据上述构想,本发明结构中该半导体层还包含一轻掺杂漏极结构,其形成于该沟道区的外围区域,且该源/漏极结构形成于该轻掺杂漏极结构的外围区域。
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