[发明专利]X射线检查装置

说明书

技术领域

本发明涉及使用X射线，γ射线等放射线的放射线检查装置，特别是，涉及非破坏检查用，医疗用的X射线检查装置。

背景技术

以往，已经报告了去除各种散射X射线成分的方法和装置。例如，报告了在上述X射线检测器面上形成具有与X射线检测器的检测像素间距相同或者整数分之一的栅频率的X射线栅，去除对于检测器面倾斜入射的散射X射线成分的方法(现有技术1：「特开平9-75332号公告」)。

另外，还报告了根据预先计测的散射X射线的点扩展函数，使用重叠滤波器去除散射X射线成分的方法(现有技术2：「M.Honda，et al.，Med.Phys.，20(1)，59-69(1993)」)。

另外，还报告了通过扫描配置在被拍摄体前面的X射线栅，直接计测散射X射线成分，去除散射X射线成分的装置(现有技术3：「K.Doi，et al.，Radiology，161，513-518(1986)」)。

另外，还报告了在对于具有周期构造的原图像数据实施小波变换得到缩小图像的情况下，获得没有莫尔条纹的高画质的缩小图像的方法(现有技术4：「特开平10-031737号公报」)。

进而，还报告了在X射线管与被拍摄体之间配置X射线栅，修正X射线的线质或者线量对于放射角度依赖性的方法(现有技术5：「特开2000-245731号公报」)。

发明内容

散射X射线成分根据使用情况，占检测出的X射线透射像的信号成分的50％以上，使得非破坏检查用检查装置，医疗用的X射线检查装置的对比度降低。

在现有技术1中，构成X射线栅的X射线透射材料由于不仅遮挡散射X射线还遮挡直接X射线成分，因此存在着用X射线检测器检测出的信号量减少的问题。为了增加检测信号量，需要增加入射到被拍摄体上的X射线量，其结果具有被拍摄体的X射线曝光量增加的问题。另外，具有不能够去除对检测器的入射角小的散射X射线，以及难以在接收器前面形成X射线栅这样的问题。

在现有技术2中，以一定的管电压，对于均匀的被拍摄体预先计测散射X射线成分的点扩展函数，进行散射X射线修正。另外，上述散射X射线修正根据被拍摄体的成分为均匀的假设下进行。但是，在实际的拍摄中，被拍摄体的成分及厚度发生种种变化，另外管电压也发生种种变化。从而，具有不能够完全去除散热X射线成分，修正的精度差这样的问题。

在现有技术3中，由于边扫描X射线缝隙边进行拍摄，因此具有不能够进行短时间的拍摄或者X射线透视这样的问题。

在现有技术4中，虽然得到高画质的观察用的缩小图像，但是并没有涉及去除包含在原图像中的散射X射线成分。

在现有技术5中，虽然由于减轻从旋转阳极X射线管放射的X射线的放射角度依赖性，能够得到均匀画质的高品位的X射线图像，但是也没有涉及去除散射X射线成分。

本发明的目的在于提供能够得到从用二维X射线检测器检测出的检查对象的X射线透射像的图像去除了散射X射线成分的X射线图像的X射线检查方法以及X射线检查装置。

本发明的另一个目的在于提供与减少检查对象的X射线曝光量的同时能够得到高品质的X射线图像的X射线检查方法以及X射线检查装置。

为了达到上述目的，在本发明中，在X射线源与检查对象之间配置X射线栅，用二维X射线检测器检测检查对象的X射线透射像。向检查对象入射的X射线是通过了X射线栅的缝隙状的X射线。透过检查对象的X射线包含缝隙状的高频成分(直接X射线成分)和由检查对象散射的非缝隙状的低频成分(散射X射线成分)。如果用二维X射线检测器检测检查对象的X射线透射像，则直接X射线成分在二维X射线检测器与X射线栅之间产生干涉条纹，散射X射线成分不产生干涉条纹。

现在，假设在与连接X射线源的焦点和二维X射线检测器的检测面中心方向大致正交的方向，使X射线栅的位置变化微小距离，则干涉条纹的相位变化。这时，干涉条纹的振幅反映直接X射线成分量。即，伴随着X射线栅位置的变化，变化的信号成分是直接X射线成分，不变化的信号成分相当于散射X射线成分。

根据以上所述，能够从干涉条纹的振幅求包含在检查对象的X射线透射像的图像中的散射X射线成分的分布图像(以下，称为散射X射线分布图像)。另外，能够从X射线透射像减去散射X射线分布图像，求直接X射线分布图像。以下把上述求直接X射线分布图像的作业称为散射X射线修正。