[发明专利]一种提高光学相干层析成像纵向分辨率的方法及系统

权利要求书

1.一种提高光学相干层析成像纵向分辨率的方法，该方法的特征是：通过利用色散元件和挡光物改变输入给光学相干层析成像系统光源的光谱形状来提高纵向分辨率，其具体作法如下：

(1)将光谱形状为高斯型的平行光束入射到一色散元件上，使不同频率的平行光在空间分开并使其通过一消色差透镜会聚；

(2)在透镜后的光路中放置一挡光物使不同频率的光得到衰减，衰减后的光形成一束具有近似矩形光谱形状的光；

(3)将改变光谱形状的光束再通过反射镜、消色差透镜及色散元件重新合成一束平行光；

(4)将改变了光谱形状的平行光束作为光源入射到光学相干层析成像系统中去。

2.一种提高光学相干层析成像纵向分辨率的方法，以光学延迟线为参考臂，其特征是：通过改变参考臂返回光的光谱形状来提高纵向分辨率，其具体作法是：在光学延迟线的振镜和透镜之间放置一挡光物，使不同频率的光得到衰减，衰减后的光形成一束具有近似矩形光谱形状的光，然后再通过振镜、透镜和光栅后重新合成一束平行光束。

3.实施如权利要求1所述的一种提高光学相干层析成像纵向分辨率方法的系统，该系统主要包括光源、2×2光纤耦合器、探测器、A/D卡、计算机、测量臂及参考臂，其特征在于：在所述光源和2×2光纤耦合器之间设置一个可改变光源光谱形状的装置，该装置包括由色散元件、消色差透镜、反射镜以及在消色差透镜和反射镜之间的挡光物所组成。

4.实施如权利要求2所述提高光学相干层析成像纵向分辨率方法的系统，主要包括光源(5)、2×2光纤耦合器(6)、探测器(7)、A/D卡(8)、计算机(9)、测量臂(10)以及由光栅、透镜和振镜组成的参考臂，其特征在于：在所述参考臂的透镜和振镜之间增加一挡光物(4)。

5.按照权利要求3或4所述的系统，其特征在于：所述的光源采用光谱形状为高斯型平行光的超辐射二极管或常规的飞秒脉冲光源。

6.按照权利要求3或4所述的系统，其特征在于：所述的挡光物的大小为光束宽度的1/6～1/3。