[发明专利]电路基板的检查装置及检查方法

说明书

技术领域

本发明是关于电路基板的检查装置及检查方法。

背景技术

在电路基板的制造中，将电路布线设于基板上之后，必须要检查该电路布线是否有断线。

在现有技术中，是将各电路布线的两个点分别和接脚连接，将其间通电进行检查以判别电路布线的断线与否。

但是，如集成电路外围那样，电路布线高密度化的话，在各电路布线上没有充裕的空间可配置接脚。此外，非接触式的检查手法(例如日本专利特开平9-264919号)也已经提出，但是这样的情况也需要在电路布线的输入侧连接接脚，所以在如同集成电路外围般高密度并且非常短的情况下，设置工作非常麻烦并且耗时。

发明内容

本发明是为解决上述课题而设，其目的在于：提供能够快速检查电路基板的检查装置及检查方法。

为达到上述目的，本发明的检查装置是组装有集成电路的电路基板的检查装置，其特征为：具备驱动机构，驱动前述集成电路以便由前述集成电路的多个输出端子依序输出信号；检测机构，以非接触方式检测出连接于前述输出端子的多数电路布线的电压值；比较机构，将前述电压值与正常值进行比较；以及异常检测机构，根据前述比较机构的比较结果，检测前述电路布线的异常。

前述检测机构，包含：电压变化检测机构，以非接触方式检测出连接于前述输出端子的多数电路布线的电压变化；以及积分机构，将前述电压变化积分后导出该电压值。

前述积分机构，为积分用的电容器。

前述检测机构，又具有将前述电压变化放大的放大机构，前述积分机构为该放大机构的一部分。

前述比较机构，将前述电压值在时间轴上描绘出的波形，和正常波形进行比较。

前述异常检测机构，在前述检测机构输入异常波形的情况下，依照该异常波形的时间轴上的位置，特定出具有异常的电路布线。

前述电压变化检测机构，具备与前述多数电路布线非接触而相对的传感器基板，其在由前述多个电路布线内任一电路布线产生电压变化的情况下，检测出该电压变化。

前述传感器基板包含：能覆盖前述多个电路布线大小的1个导电板、以及连接于该导电板的1个输出端子。

前述电压变化检测机构，将由前述多个电路布线依序输出的脉冲信号的微分值的合计值，作为前述电压变化。

前述比较机构，判断前述电压值的大小为指定值以下的情况下，前述检测机构，则判断对应于前述电压变化的电路布线上有断线。

前述驱动机构，具有：将电力供应给前述集成电路的电源、以及检测出来自该电源的电流的电流检测机构，该异常检测机构，由该电流检测机构所检测出的电流波形发生大幅乱波的定时，检测出存在短路的电路布线。

前述异常检测机构，根据其与前述比较机构的比较结果，进行前述集成电路的特性检查。

本发明的检查装置是PDP驱动用电路基板的检查装置，其特征为具备：检测机构，以非接触方式检测出与PDP驱动用LSI的各端子一对一连接的全部电路布线的电压波形；判断机构，判断检测出的前述电压波形是否为正常波形；以及特定机构，在前述电压波形中发现异常时，可由该异常波形的定时特定出具有异常的电路布线。

又具有驱动前述LSI的驱动机构，以便由前述LSI的各端子依序输出信号。

前述驱动机构，具有：将电力供应给前述LSI的电源、以及检测出来自该电源的电流的电流检测机构，前述异常检测机构，由该电流检测机构所检测出的电流波形发生大幅乱波的定时，检测出存在短路的电路布线。

前述判断机构，在不出现前述电压波形时，则判断与该电压波形相对应的电路布线为断线。

前述检查装置，又具有LSI检测机构，能从前述判断机构的判断结果，检测出前述LSI的异常。

为达到上述目的，本发明的检查方法，是组装有集成电路的电路基板的检查方法，其特征为具备：驱动步骤，驱动前述集成电路以便由前述集成电路的多个输出端子依序输出信号；检测步骤，以非接触方式检测出连接于前述输出端子的多个电路布线的电压值；比较步骤，将前述电压值与指定值相比较；以及异常检测步骤，根据前述比较机构的比较结果，检测前述电路布线的异常。

前述检测步骤，包含：电压变化检测步骤，以非接触方式检测出连接于前述输出端子的多数电路布线的电压变化；以及积分步骤，将前述电压变化积分后导出该电压值。

前述积分步骤使用积分用的电容器由电压变化求取电压值。

前述检测步骤，又具有将前述电压变化放大的放大步骤，前述积分步骤，为该放大步骤的一部分。

前述比较步骤，可以将前述电压值在时间轴上描绘出的波形，和正常波形相比较。