[发明专利]电路基板的检查装置及检查方法无效
申请号: | 01803771.2 | 申请日: | 2001-11-15 |
公开(公告)号: | CN1395687A | 公开(公告)日: | 2003-02-05 |
发明(设计)人: | 山冈秀嗣;石冈圣悟 | 申请(专利权)人: | OHT株式会社 |
主分类号: | G01R31/28 | 分类号: | G01R31/28;G01R31/304;G01R1/02 |
代理公司: | 北京纪凯知识产权代理有限公司 | 代理人: | 戈泊,程伟 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 路基 检查 装置 方法 | ||
1.一种检查装置,为组装有集成电路的电路基板的检查装置,其特征在于,具备:
驱动机构,驱动所述集成电路,以便由所述集成电路的多个输出端子依序输出信号;
检测机构,以非接触方式检测出连接于所述输出端子的多数电路布线的电压值;
比较机构,将所述电压值与正常值进行比较;以及
异常检测机构,根据在所述比较机构的比较结果,检测所述电路布线的异常。
2.如权利要求1所述的检查装置,其特征在于,所述检测机构,包括:
电压变化检测机构,以非接触方式检测出连接于所述输出端子的多数电路布线的电压变化;以及
积分机构,将所述电压变化积分后导出该电压值。
3.如权利要求2所述的检查装置,其特征在于,所述积分机构为积分用的电容器。
4.如权利要求2所述的检查装置,其特征在于,所述检测机构又具有将所述电压变化放大的放大机构,所述积分机构为该放大机构的一部分。
5.如权利要求1所述的检查装置,其特征在于,所述比较机构将所述电压值在时间轴上描绘出的波形与正常波形进行比较。
6.如权利要求1所述的检查装置,其特征在于,所述异常检测机构,在从所述检测机构输出异常波形的情况下,依照该异常波形的时间轴上的位置,特定出具有异常的电路布线。
7.如权利要求2所述的检查装置,其特征在于,所述电压变化检测机构,具备与所述多数电路布线非接触相对的一个传感器基板,其在由所述多个电路布线内任一电路布线产生电压变化的情况下,检测出该电压变化。
8.如权利要求5所述的检查装置,其特征在于,所述传感器基板包括:能覆盖所述多个电路布线大小的1个导电板,以及连接于该导电板的一个输出端子。
9.如权利要求1所述的检查装置,其特征在于,所述电压变化检测机构,将由所述多个电路布线依序输出的脉冲信号的微分值的合计值,作为所述电压变化。
10.如权利要求1所述的检查装置,其特征在于,在所述比较机构判断所述电压值的大小为指定值以下时,所述检测机构判断对应于所述电压值的电路布线上有断线。
11.如权利要求1所述的检查装置,其特征在于,所述驱动机构具有:将电力供应给所述集成电路的电源、以及检测出来自该电源的电流的电流检测机构,
所述异常检测机构,由该电流检测机构所检测出的电流波形发生大幅乱波的定时,检测出存在短路的电路布线。
12.如权利要求1所述的检查装置,其特征在于,所述异常检测机构根据所述比较机构的比较结果,进行所述集成电路的特性检查。
13.一种检查装置,其为PDP驱动用电路基板的检查装置,其特征在于,具备:
检测机构,以非接触方式检测出与PDP驱动用LSI的各端子一对一连接的全部电路布线的电压波形;
判断机构,判断检测出的所述电压波形是否为正常波形;以及
特定机构,在所述电压波形中发现异常时,可由该异常波形的定时特定出具有异常的电路布线。
14.如权利要求13所述的检查装置,其特征在于,又具有驱动所述LSI的驱动机构,以便由所述LSI的各端子依序输出信号。
15.如权利要求14所述的检查装置,其特征在于,所述驱动机构具有:将电力供应给所述集成电路的电源、以及检测出来自该电源的电流的电流检测机构,
所述异常检测机构,由该电流检测机构所检测出的电流波形发生大幅乱波的定时,检测出存在短路的电路布线。
16.如权利要求13所述的检查装置,其特征在于,所述判断机构在不出现所述电压波形时,判断对应该电压波形的电路布线为断线。
17.如权利要求13所述的检查装置,其特征在于,又具有LSI检测机构,能从所述判断机构的判断结果,检测出所述LSI的异常。
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