[发明专利]有用波对干扰波功率比测定电路及有用波对干扰波功率比测定方法

说明书

                           技术领域

本发明涉及信号干扰比(有用波对干扰波功率比)测定电路及信号干扰比测定方法。

                           背景技术

以往，作为信号干扰比SIR的测定方法，有(日本)特开平11-237419号公报上记载的方法。在该SIR测定方法中，首先对合成前的每个接收信号求有用波功率及干扰波功率，接着按照合成方法来计算合成后的SIR。由此，能够用简单的运算来测定高精度的SIR。

然而，通过本发明人进行的仿真，判明：在用上述现有的SIR测定方法测定出的SIR中，包含由于热噪声、有用波功率中包含的干扰波分量及干扰波功率中包含的有用波分量等而产生的系统固有误差(バイアス误差)。即判明：在上述现有的SIR测定方法中，不能测定正确的SIR。

此外，系统固有误差的大小按照SIR测定中使用的解扩信号数及解扩信号中包含的码元数等而变化，所以在不考虑这些数目来测定SIR的上述现有的SIR测定方法中有下述问题：SIR的测定误差按照解扩信号数或码元数等而增大。

                         发明内容

本发明的目的在于提供一种信号干扰比测定电路及信号干扰比测定方法，能够校正系统固有误差来提高信号干扰比的测定精度。

图1是本发明人进行的测定SIR的平均值的仿真结果的曲线图。即，图1是表示正确的信号干扰比和实际测定出的信号干扰比之差(即，系统固有误差)的信号干扰比特性图。在计算测定SIR的平均值时，使用几千个码元的区间的平均值。

本发明人分析了该仿真结果，判明了以下事实。

(i)在SIR比较低的SIR区域上，由于测定出的有用波功率中包含的干扰波分量的影响，测定SIR的平均值高于正确的SIR。

(ii)在SIR比较高的SIR区域上，由于测定出的干扰波功率中包含的有用波分量的影响，测定SIR的平均值低于正确的SIR。

(iii)由于有用波功率及干扰波功率的测定方法，在SIR的整个区域上存在各SIR测定电路固有的固定的系统固有误差。

因此，本发明人发现：通过根据下式来测定SIR，能够校正上述(i)～(iii)所示的系统固有误差。在下式(1)～(4)中，‘SIR’是测定SIR的平均值，‘S’是测定出的有用波功率的平均值，‘I’是测定出的干扰波功率的平均值，‘a’是有用波功率的校正系数，‘b’是干扰波功率的校正系数，‘c’是固定系统固有误差的校正系数。

首先，本发明人发现：通过根据下式(1)来测定SIR，能够校正上述(i)所示的系统固有误差。 SIR = S - a · I I . . . . . . . ( 1 ) ]]>

即，在上式(1)中，通过从有用波功率的平均值S中减去干扰波功率的平均值I乘以校正系数a所得的值，来除去有用波功率中包含的干扰波分量。

接着，本发明人发现：通过根据下式(2)来测定SIR，能够校正上述(ii)所示的系统固有误差。 SIR = S I - b · S . . . . . . . ( 2 ) ]]>