[发明专利]特异结合分析方法及用于其的特异结合分析装置有效
| 申请号: | 01802892.6 | 申请日: | 2001-12-25 |
| 公开(公告)号: | CN1401078A | 公开(公告)日: | 2003-03-05 |
| 发明(设计)人: | 権丈纪子;龟井明仁;河村达朗;濑冈正刚;高桥三枝;田中宏桥 | 申请(专利权)人: | 松下电器产业株式会社 |
| 主分类号: | G01N33/543 | 分类号: | G01N33/543 |
| 代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人: | 马铁良,叶恺东 |
| 地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 特异 结合 分析 方法 用于 装置 | ||
1.一种特异键合分析方法,其根据由试料中的分析对象物与针对该分析对象物具有特异键合特性的特异键合物质之间的特异键合反应所产生的信号对上述试料中的分析对象物进行定量,其特征在于:包括
(a)按预先包含分析对象物的各种试料,生成至少包含以下内容的数据库的工序:
由上述分析对象物与针对上述分析对象物具有特异键合性的特异键合物质之间的特异键合反应所产生的信号强度的饱和值或变化与上述分析对象物的浓度的关系、
上述信号强度的经时变化以及
上述饱和值被获取的时间ts及上述信号强度的极大值被获取的时间tm;
(b)准备包含分析对象物的试料,基于上述数据库,决定与上述试料对应的上述信号强度的测定模式的工序;
(c)使上述分析对象物与特异键合物质发生特异键合反应的工序;
(d)在上述工序(c)后,基于上述测定模式,在基于上述特异键合反应的信号强度达到饱和之前的期间内,对上述信号强度至少测定2次的工序;
(e)利用在上述工序(d)中得到的至少2个信号强度,基于上述数据库,对上述试料中的分析对象物的量进行确定的工序。
2.权利要求1中记载的特异键合分析方法,其特征在于:
在上述工序(b)中的试料通过上述数据库判断出是具有上述极大值的场合下,
上述测定模式至少在时间t1及t2(tm≤t1<t2≤ts)分别对信号强度A1及A2进行测定,而且在上述时间ts对信号强度As进行测定,
在上述工序(e)中,利用上述信号强度A1及A2的变化以及上述信号强度As,基于上述数据库中的上述关系,决定上述试料中的分析对象物的量。
3.权利要求1中记载的特异键合分析方法,其特征在于:
在上述工序(b)中的试料通过上述数据库判断出是没有上述极大值的场合下,
上述测定模式至少在时间t3及t4(t3<t4<ts)对信号强度A3及A4进行测定,
在上述工序(e)中,基于上述信号强度A3及A4的变化以及上述数据库中的上述关系,决定上述试料中的分析对象物的量。
4.权利要求1中记载的特异键合分析方法,其特征在于:
在上述工序(c)中,使上述分析对象物与被由示踪剂示踪的第1特异键合物质发生特异键合反应,并使上述分析对象物与第2特异键合物质发生特异键合反应。
5.权利要求4中记载的特异键合分析方法,其特征在于:
包括制作包含在上述工序(b)之前,点着上述试料的试料点着部,以及,对第2特异键合物质进行实质性固定并可对来自特异键合反应的信号进行检测的检测部的试验条的工序(X),
在上述工序(d)中,通过在上述试料点着部将上述试料点着,利用毛细现象使上述试料流入上述检测部,来使与上述第1特异键合物质键合后的分析对象物与上述第2特异键合物质发生特异键合反应。
6.权利要求4中记载的特异键合分析方法,其特征在于:
在上述工序(d)中,利用上述示踪剂对上述信号强度进行测定。
7.权利要求5中记载的特异键合分析方法,其特征在于:
在上述工序(X)中,在上述试料点着部与上述检测部之间,设有具有被由示踪剂示踪的第1特异键合物质的保持部。
8.权利要求5中记载的特异键合分析方法,其特征在于:
在上述工序(d)中,沿着上述试验条上的上述试料的浸透方向在上述检测部对上述信号强度进行连续测定。
9.权利要求8中记载的特异键合分析方法,其特征在于:
在上述工序(d)中,根据表示上述浸透方向的位置与上述信号强度的关系的标准线,决定上述信号强度。
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