[发明专利]MR成像方法,相位误差测量方法和MRI系统

说明书

发明背景

本发明涉及一种MR成像方法，一种相位误差测量方法，以及一个MRI(磁共振成像)系统，更准确而言，是一种能够减少由于剩磁造成的图像质量下降的MR成像方法，一种用于测量由于剩磁造成的相位误差的相位误差测量方法，以及一个实施上述方法的MRI系统。

以下现有技术已公开于日本专利申请，公开号为H10-75840。

(1)一种实施预扫描序列的相位误差测量方法，用于发射一个激励脉冲，发射一个反转脉冲，在相位轴上施以相位编码脉冲，在读出轴上施以读出脉冲，在相位轴上施以重绕(rewind)脉冲，然后发射一个反转脉冲，在相位轴上施以去相脉冲，之后在相位轴上施以读出脉冲的同时采集来自回波的数据，根据将采集的数据转化为一维傅立叶形式得到的相位数据，测量每个回波由于相位编码脉冲的涡流和剩磁等的影响而产生的相位误差，以及

(2)一种用于快速自旋回波过程(process)的脉冲序列的MR成像方法，用于发射激励脉冲后再发射反转脉冲，在相位轴上施以相位编码脉冲，在读出轴上施以读出脉冲的同时采集来自回波的数据，改变相位编码脉冲的同时在相位轴上重复多次施以重绕脉冲，因此采集一个激励的多个来自回波的数据，建立一个补偿脉冲以补偿用上述相位误差测量方法(1)测出的在其相应的相位编码脉冲的相位误差量，将补偿脉冲叠加到紧邻相位编码脉冲之前或之后脉冲的一个或二者之上，将补偿脉冲并入它的相应的重绕脉冲之中，或者将补偿脉冲叠加到紧邻重绕脉冲之前或之后的脉冲的一个或二者之上。

这两个现有技术的前提是由上述相位误差测量方法(1)得到的相位误差量与快速自旋回波过程(2)中无补偿脉冲时的相位误差大小相等。

然而，由于相位误差测量开始时的剩磁和快速回波过程的脉冲序列开始时的剩磁并不总是相等，上述结论存在问题，现有技术的前提不能成立，剩磁产生相位误差并导致图像质量下降。

发明概述

本发明的目的是提供一种能够减少由于剩磁造成的图像质量下降的MR成像方法，一种测量由于剩磁造成的相位误差的相位误差测量方法，以及一个实施上述方法的MRI系统。

根据第一方面，本发明提供了一种用快速自旋回波过程的MR成像方法，包括发射激励脉冲后再发射反转脉冲，在相位轴上施以相位编码脉冲，在读出轴上施以读出脉冲的同时采集来自回波的数据，改变相位编码脉冲的同时在相位轴上重复多次施以重绕脉冲，采集一个激励的多个来自回波的数据，在激励脉冲前，在任意梯度轴上施以预脉冲，在初始反转脉冲之前或之后，在相位轴上施以校正脉冲以校正由于预脉冲造成的相位误差，或者，在初始反转脉冲上叠加该校正量以校正预脉冲造成的相位误差。

在依照第一方面的MR成像方法中，在激励脉冲前在任意梯度轴上施以预脉冲。由于该预脉冲快速自旋回波过程的脉冲序列开始时的剩磁可因此得以控制。而且，在初始反转脉冲之前或之后，在相位轴上施以校正脉冲以校正由于剩磁造成的相位误差，或者，在初始反转脉冲上叠加该校正量以校正由预脉冲造成的相位误差。因此，可以减少快速自旋回波过程的脉冲序列开始时的剩磁的影响并减少剩磁造成的图像质量下降。

根据第二方面，本发明提供了一种MR成像方法，其中，根据第一方面所述MR成像方法中，在相应的重绕脉冲或紧跟其后的相位编码脉冲上叠加所述校正量以校正由于相位编码脉冲造成的相位误差量，或者，在相应的重绕脉冲之前或之后，施以校正脉冲以校正由于相位编码脉冲造成的相位误差量。

在依照第二方面的MR成像方法中，可以抑制快速自旋回波过程的脉冲序列开始时的剩磁的影响并校正由于相位编码脉冲造成的相位误差，并因此可以减少剩磁造成的图像质量下降。

根据第三方面，本发明提供了一种采用快速自旋回波过程的MR成像方法，用于发射激励脉冲后再发射反转脉冲，在相位轴上施以相位编码脉冲，在读出轴上施以读出脉冲的同时采集来自回波的数据，改变相位编码脉冲的同时在相位轴上重复多次施以重绕脉冲，因而采集一个激励的多个来自回波的数据，在激励脉冲前，在任意梯度轴上施以预脉冲，在初始相位编码脉冲或初始重绕脉冲上叠加所述校正量以校正由预脉冲造成的相位误差。

在依照第三方面的MR成像方法中，激励脉冲前在任意梯度轴上施以预脉冲。由于该预脉冲，快速自旋回波过程的脉冲序列开始时的剩磁可因此得以控制。而且，在初始相位编码脉冲或初始重绕脉冲上叠加上述校正量以校正由于剩磁造成的相位误差。所以，可以抑制快速自旋回波过程的脉冲序列开始时的剩磁的影响并减少剩磁造成的图像质量下降。