[发明专利]MR成像方法,相位误差测量方法和MRI系统无效
| 申请号: | 01800330.3 | 申请日: | 2001-02-26 |
| 公开(公告)号: | CN1363044A | 公开(公告)日: | 2002-08-07 |
| 发明(设计)人: | 宫本昭荣 | 申请(专利权)人: | GE医疗系统环球技术有限公司 |
| 主分类号: | G01R33/565 | 分类号: | G01R33/565 |
| 代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人: | 王岳,王忠忠 |
| 地址: | 美国威*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | mr 成像 方法 相位 误差 测量方法 mri 系统 | ||
1.一种应用快速自旋回波过程的MR成像方法,包括以下步骤:
在发射激励脉冲后发射一个反转脉冲;
在相位轴上施以一个相位编码脉冲;
读出轴上施以一个读出脉冲的同时采集来自来自回波的数据;
改变相位编码脉冲的同时在相位轴上重复多次施以一个重绕脉冲;
采集来自一个激励的多个回波的数据;
在激励脉冲前在任意梯度轴上施以一个预脉冲;以及
在初始反转脉冲之前或之后,在相位轴上施以一个校正脉冲以校正由于预脉冲造成的相位误差,或者,在初始反转脉冲上叠加该校正量以校正由于预脉冲造成的相位误差。
2. 如权利要求1的MR成像方法,其中,在相应的重绕脉冲或紧跟其后的相位脉冲上叠加所述校正量以校正由于相位编码脉冲造成的相位误差,或者,在相应的重绕脉冲之前或之后,施以校正脉冲以校正由于相位编码脉冲造成的相位误差。
3.一种应用快速自旋回波过程的MR成像方法,包括以下步骤:
在发射激励脉冲后发射一个反转脉冲;
在相位轴上施以一个相位编码脉冲;
在读出轴上施以一个读出脉冲的同时采集来自回波的数据;
改变相位编码脉冲的同时在相位轴上重复多次施以一个重绕脉冲;
采集来自一个激励的多个回波的数据;
在激励脉冲前,在任意梯度轴上施以一个预脉冲;以及
在初始相位编码脉冲或初始重绕脉冲上叠加校正量以校正预脉冲造成的相位误差。
4.如权利要求3的MR成像方法,其中,在相应的重绕脉冲或紧跟其后的相位脉冲上叠加所述校正量以校正由于相位编码脉冲造成的相位误差,或者,在相应的重绕脉冲之前或之后,施以校正脉冲以校正由于相位编码脉冲造成的相位误差。
5.一种相位误差测量方法,包括以下步骤:
(1)在任意梯度轴上施以一个预脉冲,发射一个激励脉冲,发射一个第一反转脉冲,而后发射一个第二反转脉冲,在相位轴上施以去相脉冲,在相位轴上施以读出脉冲的同时采集来自回波的数据,施以复相脉冲,然后发射一个第三反转脉冲,在相位轴上施以去相脉冲,在相位轴上施以读出脉冲的同时采集来自回波的数据,并根据采集的数据确定相位误差大小;
(2)在任意梯度轴上施以预脉冲,发射一个激励脉冲,发射一个第一反转脉冲,在相位轴上施以相位编码脉冲,在相位轴上施以重绕脉冲,而后发射一个第二反转脉冲,相位轴上施以去相脉冲,相位轴上施以读出脉冲的同时采集来自回波的数据,施以复相脉冲,然后发射一个第三反转脉冲,相位轴上施以去相脉冲,相位轴上施以读出脉冲的同时采集来自回波的数据,根据采集的数据确定相位误差大小;
(3)在任意梯度轴上施以一个预脉冲,发射一个激励脉冲,发射一个第一反转脉冲,在相位轴上施以与所述(2)极性相反的相位编码脉冲,在相位轴上施以一个重绕脉冲,而后发射一个第二反转脉冲,在相位轴上施以一个去相脉冲,在相位轴上施以读出脉冲的同时采集来自回波的数据,施以一个复相脉冲,然后发射一个第三反转脉冲,在相位轴上施以去相脉冲,在相位轴上施以读出脉冲的同时采集来自回波的数据,根据采集的数据确定相位误差大小;
(4)任意梯度轴上施以与所述(1)极性相反的预脉冲,发射一个激励脉冲,发射一个第一反转脉冲,而后发射一个第二反转脉冲,在相位轴上施以一个去相脉冲,在相位轴上施以读出脉冲的同时采集来自回波的数据,施以一个复相脉冲,然后发射一个第三反转脉冲,在相位轴上施以一个去相脉冲,在相位轴上施以读出脉冲的同时采集来自回波的数据,并根据采集的数据确定相位误差大小;以及
(5)根据上述由(1)至(4)的每一个得到的相位误差,确定由于预脉冲造成的相位误差大小。
6.如权利要求5的相位误差测量方法,其中,根据上述由(2)和(3)的每一个得到的相位误差大小,确定由于相位编码脉冲造成的相位误差大小。
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