[实用新型]探针测试卡无效
| 申请号： | 01203939.X | 申请日： | 2001-02-05 |
| 公开（公告）号： | CN2466661Y | 公开（公告）日： | 2001-12-19 |
| 发明（设计）人： | 陈文祺 | 申请（专利权）人： | 陈文祺 |
| 主分类号： | G01R1/073 | 分类号： | G01R1/073;G01R31/28;H01L21/66 |
| 代理公司： | 北京集佳专利商标事务所 | 代理人： | 王学强 |
| 地址： | 中国*** | 国省代码： | 台湾;71 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 探针 测试 | ||
【权利要求书】：
1、一种探针测试卡，包括：
一电路板；
复数个电极，设于该电路板上；及
复数条探针，其一端分别连接该电极，另一端悬空可用以侦测芯片；
其特征在于：该电极呈平行方向排列。
2、如权利要求1所述的探针测试卡，其特征在于：所述电极呈纵向平行方向排列。
3、如权利要求1所述的探针测试卡，其特征在于：所述电极呈横向平行方向排列。
4、如权利要求1所述的探针测试卡，其特征在于：所述电极呈斜向平行方向排列。
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