[发明专利]槽脊/槽识别方法和采用该方法的光记录/再现装置

说明书

                             技术领域

本发明涉及一种用于识别光斑是形成在槽脊—槽型光盘的槽脊上还是形成在槽脊—槽型光盘的槽中的方法，以及一种采用该方法的光记录/再现装置。

                             背景技术

对于槽脊—槽型光盘，为了进行可靠的跟踪和聚焦，需要识别当前光束的束斑是处于平面上还是处于槽中。这是因为对于槽脊和槽而言，在跟踪过程中通过推挽方法对物镜偏移所引起的跟踪误差分信号的偏差的补偿和聚焦偏差的补偿应该根据是槽脊还是槽而提供不同的补偿值。

参照图1，用于识别槽脊和槽的传统的光拾取装置包括一个光源1，一个对光源1发射的发散光束进行准直的准直透镜3，一个通过衍射对光束进行分离的全息元件5，一个根据入射光束的偏振态对入射光束进行透射或反射的偏振分束器7，一个用于改变入射光束的偏振态的四分之一波片9，一个用于对入射光束进行聚焦、在光盘10上形成光斑的物镜11，和一个用来接收光盘10所反射/衍射的光束的光电检测器15。

全息元件5将入射光束衍射成一个主光束和第一与第二次级光束。如图2所示，全息元件5具有第一到第四分区5a，5b，5c和5d，将该全息元件设计成使穿过第一分区5a到第三分区5c的光束相对穿过第二分区5b到第四分区5d的光束具有90°的相差。因此，穿过第一分区5a到第三分区5c的第一次级光束，即+1^st级光束部分的相位相对于穿过第二分区5b到第四分区5d的第一次级光束部分的相位超前90°。相反，穿过第一分区5a到第三分区5c的第二次级光束，即-1^st级光束部分的相位相对于穿过第二分区5b到第四分区5d的第二次级光束部分的相位滞后90°。

参考图3，物镜11通过对全息元件5所产生的主光束和第一与第二次级光束进行聚焦，在光盘10上形成主光斑1a和第一次级光斑1b与第二次级光斑1c。

参考图4，光电检测器15包括用来分别接收光盘10所反射的主光束和第一与第二次级光束的主光电检测器15a和第一次级光电检测器15b与第二次级光电检测器15c，。主光电检测器15a包括四个分开的板A、B、C和D，第一次级光电检测器15b包括四个分开的板E、F、G和H，第二次级光电检测器15c包括四个分开的板I、J、K和L。

假设把由主光电检测器15a四个分开的板A、B、C和D输出的信号分别表示为a、b、c和d，把由第一次级光电检测器15b四个分开的板E、F、G和H输出的信号分别表示为e、f、g和h，把由第二次级光电检测器15c四个分开的板I、J、K和L输出的信号分别表示为i、j、k和l，则再现信号RFS，槽脊/槽(L/G)信号和跟踪误差分信号TES由公式(1)表示：

RFS＝a+b+c+d

L/G信号＝(e+g+j+l)-(f+h+i+k)

TES＝(a+b)-(c+d)

上述检测的跟踪误差分信号TES和槽脊/槽(L/G)信号具有相同的周期，不过具有90°的相差，如图5所示。当跟踪误差分信号TES大小为零时，槽脊/槽(L/G)信号分别具有最大或最小值。从而，就可以知道光斑是聚焦在光盘的平面上，还是聚焦在光盘的槽上。不过，上述的传统光拾取装置使用来自光源1的光束分割成的三个光束，从而存在光利用率低的问题。

                                 发明内容

为了解决上述问题，本发明的一个目的在于提供一种识别光斑是聚焦在光盘的平面上还是聚焦在槽上的方法，该方法使用一个光学元件，能够产生光盘的厚度偏差的效应，通过使用单个光束可以获得高的光利用率，以及采用该方法的一种光记录/再现装置。

为了达到本发明的这个目的，所提供的槽脊/槽识别方法包括：通过一个能够产生和改变光盘的厚度偏差效应的光学元件，将光束照射到具有槽脊和槽的光盘上；通过将所反射/或衍射的光束分成内部和外部光束部分，对从光盘反射/衍射的光束进行检测；在通过驱动光学元件改变光盘的厚度偏差效应的大小的同时，通过检测内部与外部光束部分的检测信号之间差分信号的改变来对光盘的槽脊和槽进行识别。