[发明专利]槽脊/槽识别方法和采用该方法的光记录/再现装置无效

专利信息
申请号: 01142522.9 申请日: 2001-11-30
公开(公告)号: CN1383141A 公开(公告)日: 2002-12-04
发明(设计)人: 安荣万;郑钟三;金泰敬;徐偕贞;金钟培 申请(专利权)人: 三星电子株式会社
主分类号: G11B7/13 分类号: G11B7/13;G11B7/125
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 代理人: 杨梧,马高平
地址: 韩国*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 槽脊 识别 方法 采用 记录 再现 装置
【权利要求书】:

1.一种槽脊/槽识别方法,其特征在于,包括:

通过一个能够产生和改变光盘的厚度偏差效应的光学元件,将光束照射到具有槽脊和槽的光盘上;

通过将所反射/或衍射的光束分成内部和外部光束部分,对从光盘反射/衍射的光束进行检测;

在通过驱动光学元件改变光盘的厚度偏差效应的大小的同时,通过检测内部与外部光束部分的检测信号之间差分信号的改变来对光盘的槽脊和槽进行识别。

2.如权利要求1所述的槽脊/槽识别方法,其特征在于:该光学元件可以用于补偿光盘厚度偏差所引起的球差。

3.如权利要求1或2所述的槽脊/槽识别方法,其特征在于:根据差分信号的DC值的增加或减小对光盘的槽脊与槽进行识别。

4.一种光记录/再现装置,该光记录/再现装置包括一个光拾取装置和一个能够对槽脊/槽型光盘的槽脊和槽进行识别的信号处理单元,该光记录/再现装置的特征在于:

该光拾取装置包括一个位于光源所发射的、通过物镜聚焦在光盘上的光束的行进路径上的光学元件,该光学元件引起并改变光盘的厚度偏差效应;和一个光电检测装置,该光电检测装置通过将所反射/衍射的光束分成内部和外部光束部分而检测光盘所反射/衍射的光束;以及

该信号处理单元在通过驱动光学元件改变光盘的厚度偏差效应的大小的同时,通过从内部光束部分的检测信号中减去至少一个外部光束部分的检测信号对差分信号进行检测,通过检测差分信号中的变化,对槽脊/槽型光盘的槽脊和槽进行识别。

5.如权利要求4所述的光记录/再现装置,其特征在于:该光学元件可供选择地用于补偿光盘厚度偏差所引起的球差。

6.如权利要求4所述的光记录/再现装置,其特征在于:该信号处理单元根据差分信号的DC值的增加或减小对光盘的槽脊和槽进行识别。

7.如权利要求4所述的光记录/再现装置,其特征在于:内部和外部光束部分的分配比率在10∶90到90∶10范围内。

8.如权利要求4、5、6或7所述的光记录/再现装置,其特征在于:光电检测装置通过将光束沿相当于光盘径向的方向分成内部和外部光束部分来检测光束。

9.如权利要求8所述的光记录/再现装置,其特征在于:该光电检测装置为8分区光电检测器。

10.如权利要求4、5、6或7所述的光记录/再现装置,其特征在于:该光电检测装置通过将光束分成圆形或矩形内部光束部分和围绕该圆形或矩形内部光束部分的外部光束部分来检测光束。

11.如权利要求10所述的光记录/再现装置,其特征在于:该光电检测装置为12分区光电检测器,包括四个用于接收内部光束部分的内部分开的板,和八个围绕该内部分开的板并用于接收外部光束部分的外部分开的板。

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