[发明专利]一种测试软件工具的分析方法

说明书

本发明的目的是一种测试软件工具的分析方法。它尤其可以在测试设备执行的测试软件领域中，用来测试电子组件，例如，用来评价作为电子组件生产质量控制工具的软件工具的性能特点，因为这些组件通常是大批量生产的。在现有的技术中，没有已知的分析这种测试软件工具的方法。本发明的价值就在于它提出了一种分析方法，通过这种方法，可以组织测试设备的维护，此分析方法给出的结果和测试软件工具给出的结果可以用来优化软件。

在现有技术中，存在一种用这样一种方式执行测试软件的测试程序的测试设备，此方式为：测试程序包括一个为了测试待测组件而执行的指令序列。此指令序列和执行这些指令后得到的结果的接受标准都存储在测试设备的数据存储器中。一个测试设备通常包括一个与数据存储器交换信息的微处理器。而且，微处理器控制着此测试设备的多路器。通过此多路器，将必需应用到待测电子组件特殊点的电压与测试设备的插脚相连而且，多路器还可以用来在插脚中识别组件发出的电压。微处理器记录下每个插脚发出的电压，这就构成了测试程序的结果。然后将此结果记录在测试设备的测量存储器中。

为了确保这种测试设备给出的结果的质量，必需保证构成测试设备本身的每个电子组件工作正常。因此，在现有的技术中，必需对测试设备做频繁的修理。例如，如果连续拒绝了要测试的大量组件，而且发生的原因相同，则必须停止测试设备，必需在其组成的电子组件中做故障搜寻。类似地，在另一个例子中，如果测试设备不能再完整地执行此测试程序，则必需停止用此设备进行的测试，必需在设备中进行故障搜寻。目前在现有技术中搜寻故障(或故障检修)是一项艰苦的操作。实际上，在测试设备中寻找故障必需按照一个逻辑顺序进行，此顺序依赖于构成测试设备的每个组件的故障出现的频率。这种故障搜索顺序经验上是根据测试设备的用户所作的观察。这种故障的搜索是独立于测试程序中含有的指令知识之外进行的，它将设备的不同组件都投入运行。

在现有技术中，使用这种执行测试程序的测试设备带来了一些问题。事实上，这类测试设备经常会出错，而且很难预料。当在有批量组件需要测试的测试工作中发生故障时，这会限麻烦。而且，当测试设备由于故障停止时，故障的修理可能会耗费大量的时间，因为没有可以用来快速发现故障原因的方法和解决它的方法。事实上，所用的经验性的方法并不能优化这种问题的解决。而且，在现有技术中，也没有将故障发生最小化的预防性维护措施。事实上，只是在时间到来时才面对问题。没有防止它的措施。

本发明的一个目的是通过提出一种测试软件工具的分析方法来克服所述问题，以使分析程序记录下软件测试程序的给定操作的运行次数。一个测试软件可以包括程序，这样每个程序对电子组件的给定类型都是特定的。一个测试程序包括测试设备要执行的操作和指令。然后，对每个测试程序都记录下每个操作的运行次数。而且，分析方法也可以评价测试软件的任一个测试程序对测试设备的一个电子组件操作的次数。这样，就可以根据软件对其操作的次数导出一个对测试设备电子组件的分类。而且，还可以知道每个测试程序执行最频繁的操作。根据本发明的方法，可以评价出测试设备的每个组件磨损和破损的比率，并在对待测组件系列进行一系列的测试时，预测出每个组件磨损和破损比率的进展。这样就可以为这些细件都计划出早期的替换或甚至是替换频率，以防止故障的出现。

而且，此分析方法给出的信息还可以用来优化包含在每个测试程序中的操作顺序。这种优化旨在减少高频操作的运行实例的数量。而且，由于可以使用一种分析方法来找出每个操作的运行周期，所以最好要找出此周期以便减少最长操作的运行次数。本发明产生的此方法提供了对测试设备的预防维护，并可以帮助优化软件甚至是此软件执行的测试程序。

因此，本发明涉及一种测试软件工具的分析方法，其特征在于，它包括以下步骤：在一个测试设备中，使用此软件程序来测试电子组件；记录下此程序相同的测试操作的运行的发生次数。

从下面的描述和附图中可以更清楚地理解本发明。这些图形纯粹作为指示给出，它们没有限制本发明的范围。这些图中：

图1是依据本发明的一个软件工具的分析方法的示意图；图2是依据本发明的一个数据分析的示意图；

图1表示用来测试电子组件2的一个测试设备1。电子组件2是一个例如具有电子微电路的卡，诸如一个智能卡或一个存储组件。一般来说，这种电子组件2提供在诸如平板3的平板3上，通常包括诸如2个待测的电子组件。这种类型的平板3的组件相互可以相同或不同。在优选示例中，平板3拥有相互相同的集成电路。