[发明专利]一种测试软件工具的分析方法无效

专利信息
申请号: 01116497.2 申请日: 2001-03-14
公开(公告)号: CN1316715A 公开(公告)日: 2001-10-10
发明(设计)人: 菲利浦·乐久恩 申请(专利权)人: 比拉克诺博芬纳泰奥·塔加拉克塞
主分类号: G06F17/60 分类号: G06F17/60;G06F11/00;G01R31/28
代理公司: 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 代理人: 马浩
地址: 爱尔兰*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 一种 测试 软件 工具 分析 方法
【权利要求书】:

1.一种测试软件工具(7)的分析方法,其特征在于,它包括以下步骤:

在测试设备(1)中,使用此软件的程序(8)来测试电子组件(2);

记录下此程序相同的测试操作(14)运行发生的次数(15、16)。

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,

按照执行的统计发生次数对测试操作进行分类。

3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,

可以推导出或记录下测试设备的组成元件经历的操作(17)的实例的比率。

4.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,

把组成元件按照经受操作的实例的统计比率进行分类。

5.根据权利要求3和4中任一项所述的方法,其特征在于,

对测试设备组成元件的分类是按照对其操作的比率决定的,以便在此设备中发生故障的情况下,判定出要进行的最优的搜索顺序。

6.根据权利要求3到5中任一项所述的方法,其特征在于,

可以为测试设备的每个组成元件记录下故障发生的次数(19);

这些组成元件的统计寿命是通过将对其操作的实例的比率和每个元件故障发生的次数相关决定的。

7.根据权利要求6所述的方法,其特征在于,

可以按照比他们的统计寿命小的频率来预防性地更换测试设备的组成元件。

8.根据权利要求7所述的方法,其特征在于,

可以记录下执行测试程序序列的持续时间;

可以通过减少在电子组件上执行测试程序的持续时间来优化软件工具,可以通过减少执行最长序列的次数,并减少执行最频繁的操作的发生次数来得到持续时间的减小。

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