[发明专利]半导体集成电路无效

专利信息
申请号: 01116250.3 申请日: 2001-02-28
公开(公告)号: CN1312493A 公开(公告)日: 2001-09-12
发明(设计)人: 须藤稔;小山内润 申请(专利权)人: 精工电子有限公司
主分类号: G05F1/46 分类号: G05F1/46;G05F1/56
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 代理人: 陈景峻
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 半导体 集成电路
【说明书】:

发明涉及一种半导体集成电路,当在一集成电路、一电荷泵电路(下文称为CP电路)、或者在一开关稳压器的开关元件(下文称为SW元件)中,MOS(金属氧化物半导体)晶体管被用作电压稳压器的输出晶体管时,能够通过改变MOS晶体管(反向栅极电压back gate voltage)的衬底电势(substratepotential)而提高驱动性能。

如图9所示的电路图中,电压稳压器输出一相关正电压,这是众所周知的。也就是,一个现有的稳压器包括一稳压器控制电路,该稳压器控制电路由一误差放大器13和一输出晶体管14组成。该误差放大器13用于放大电压差,该电压差是基准电压电路10的基准电压Vref与分压电阻11、12的连接点电压之间的电压差,该分压电阻11,12分出稳压器输出端5的电压Vout(下文称为输出电压)。正电源电压VDD被施加到电源电压端15。

假设误差放大器13的输出电压是Verr,基准电压电路10的输出电压是Vref,分压电阻11、12的连接点的电压是Va,那么,假如Vref>Va,则Verr变低,相反,假如Vref<Va,则Verr变高。

所述输出晶体管14是一p沟道MOS晶体管。因而,当Verr变低时,通过栅极和源极的电压变大,接通电阻变小,操作时便使得输出电压Vout升高。相反,当Verr升高时,则输出晶体管14的接通电阻变大,输出电压降低,以便输出电压Vout被保持为一固定值。

输出晶体管14的接通电阻RonGOUCHENG构成一个函数,该函数用于栅极和源极之间的电压Vgs与晶体管的阈值电压Vt,而且使晶体管的接通电阻较小,以便Vgs-Vt较大。典型地,为了使得通过晶体管的漏区和源区的电压小,该区域的接通电阻由公式(1)给出: Ron = 1 μ · Cox · W / L · ( Vgs - Vt ) · · · · · · · · · ( 1 ) ]]>

式中,μ为迁移率,Cox为单位面积的栅电容,W为晶体管的选通脉冲宽度,L为选通脉冲长度。

为了降低输出晶体管的接通电阻,有必要增大晶体管的选通脉冲宽度W。这就增大了集成电路(IC)的表面积,从而导致成本提高。

另一方面,如图10的电路图所示,现有技术的稳压器输出一负电压,这是众所周知的。也就是,一个现有的稳压器包括一稳压器控制电路,该稳压器控制电路由一误差放大器13和一输出晶体管17组成。该误差放大器13用于放大电压差,该电压差用作基准电压电路10的基准电压Vref和分压电阻11,12的连接点的电压,该分压电阻11,12分出稳压器输出端5的电压-Vout。负电源电压-VSS被施加到电源电压端16。假设误差放大器13的输出电压是-Verr,基准电压电路10的输出电压是-Vref,分压电阻11、12的连接点的电压是-Va,那么,假如-Vref<-Va,则-Verr变低(接近-VSS),相反,假如-Vref>-Va,则-Verr变高(接近接地电压GND)。

所述输出晶体管17是一n沟道MOS晶体管。因而,当-Verr升高时,通过栅极和源极的电压变大,接通电阻变小,操作时便使得输出电压Vout降低。相反,当-Verr变低时,则输出晶体管17的接通电阻变大,输出电压升高,以便输出电压Vout被保持在一固定值。

关于正稳压器,为了降低输出晶体管的接通电阻,有必要增大晶体管的选通脉冲宽度W,输出晶体管的接通电阻由公式(1)给出。这就增大了集成电路(IC)的表面积,从而导致成本提高。

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