[发明专利]检验盘缺陷管理区信息的方法及执行该方法的测试设备无效
| 申请号: | 01116202.3 | 申请日: | 2001-04-06 |
| 公开(公告)号: | CN1320923A | 公开(公告)日: | 2001-11-07 |
| 发明(设计)人: | 高祯完;郑铉权 | 申请(专利权)人: | 三星电子株式会社 |
| 主分类号: | G11B20/18 | 分类号: | G11B20/18;G11B20/12;G11B7/00 |
| 代理公司: | 柳沈知识产权律师事务所 | 代理人: | 马莹 |
| 地址: | 韩国*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 检验 缺陷 管理区 信息 方法 执行 测试 设备 | ||
本发明涉及一种能够在一记录和再现盘上记录信息并从该盘再现信息的设备,尤其涉及一种检验盘记录和再现设备是否正常地产生或更新盘的缺陷管理区(DMA)信息的方法以及用于执行该方法的测试设备。
记录和再现盘是采用诸如激光束的光来记录和再现信息的光盘,例如是数字通用盘随机存取存储器(DVD-RAM)。DVD-RAM是可重写盘。根据“可重写盘DVD规范,部分1,物理规范版本2.0(DVD Specifications for Rewritab1eDisc Part 1 Physical Specifications Version 2.0)”,DVD-RAM在其每侧包括4个DMA,即DMA1、DMA2、DMA3和DMA4,用于管理其上的缺陷。
如图1所示,DMA1和DMA2位于靠近盘内径的导入区,DMA3和DMA4位于靠近盘外经的导出区。每个DMA后跟随保留扇区。
DMA中存储有盘定义结构(DDS)、主缺陷列表(PDL)和次缺陷列表(SDL)。DDS包括有关盘格式结构的信息,例如盘认证标记、DDS/PDL更新计数器和每个区的开始逻辑扇区号。PDL包括有关在盘初始化期间在盘上检测到的所有缺陷扇区的信息。SDL包括有关在使用盘时出现的缺陷块(纠错码(ECC)块)中每个第一扇区的扇区号的信息、有关被用来替代缺陷块的备用块中每个第一扇区的扇区号的信息、以及有关备用区的信息。
可以立即读取和使用DMA中所包含的一些信息。另一方面,DMA包括随盘上缺陷位置和数目变化的信息。此外,可通过基于DMA中所登记的缺陷信息来执行一算法来获得一些信息,例如,每个区域的开始扇区号或逻辑扇区号0的位置信息。
为了防止由于DMA信息中的差错引起的错误的缺陷管理,因此在盘的每侧存在4个DMA。由于这种DMA信息与物理数据扇区紧密相关,因此,当不正确地写入或读出DMA信息时,诸如可移动光盘的记录介质可能与两种不同的盘记录和再现设备不兼容。
这是因为,当将盘记录和再现设备(例如DVD-RAM记录和再现设备)的记录和再现体系结构分成文件系统层、用于将主计算机与记录和再现设备相接口的主接口层、用于记录和再现物理信号的物理盘记录和再现设备(或盘驱动单元)层、和记录介质层时,在物理盘记录和再现设备层及其下面的层执行DMA信息的写入和读取。
在实际的文件系统中,仅基于逻辑扇区号将要被记录或再现的用户信息发送到盘记录和再现设备,并且盘记录和再现设备将逻辑扇区号变换成物理扇区号,以记录或再现用户信息。在这种情况下,使用DMA信息。因此,当在给定的盘记录和再现设备中错误地读取或写入DMA信息时,在其他记录和再现设备上不能正确地读取或写入数据。
因此,需要一种用于检验盘记录和再现设备是否正确地读取记录在盘上的信息并且将DMA信息正确地记录到盘上以产生或更新DMA信息的方法。
为了解决上述问题,本发明的第一目的是提供一种用于检验在辅助备用区扩展模式下盘记录和再现设备是否正常地产生或更新缺陷管理区(DMA)信息的方法。
本发明的第二目的是提供一种用于检验在辅助备用区扩展模式下盘记录和再现设备是否正常地产生或更新盘的缺陷管理区(DMA)信息的方法,其中该DMA信息是使用空白盘和用作测试基准的DMA镜像文件产生的。
本发明的第三目的是提供一种用于检验在辅助备用区扩展模式下盘记录和再现设备是否正常地产生或更新DMA信息的测试设备。
为了实现本发明的上述和其他目的,提供了一种用于检验在具有DMA信息的盘上记录信息或从这种盘再现信息的记录和再现设备的DMA信息产生或更新功能的方法。该方法包括下列步骤:采用具有测试基准信息的测试盘,扩展记录和再现设备中测试盘的辅助备用区,并从测试盘中产生测试信息;和,将从测试基准信息中得到的基准信息与测试信息相比较,并提供对测试信息的检验结果。
为了实现本发明的上述和其他目的,还提供了一种用于测试在具有DMA信息的盘上记录信息或从这种盘再现信息的记录和再现设备的DMA信息产生或更新功能的设备。该设备包括:测试盘,其具有测试基准信息;基准驱动器,用于在记录和再现设备在辅助备用区扩展模式下对测试盘进行处理之后,从测试盘产生测试信息;和检验器,用于将从测试基准信息中得到的基准信息与测试信息相比较,并提供对测试信息的检验结果。
通过下面结合附图对优选实施例的描述,本发明的上述和其他目的和优点将会变得更加清楚,其中:
图1表示可重写盘的示意性配置;
图2的框图表示本发明测试设备的功能;
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