[发明专利]检验盘缺陷管理区信息的方法及执行该方法的测试设备

权利要求书

1、一种用于检验在具有缺陷管理区域(DMA)信息的盘上记录信息或从该盘再现信息的记录和再现设备的DMA信息产生或更新功能的方法，该方法包括下列步骤：

采用具有测试基准信息的测试盘，扩展记录和再现设备中测试盘的辅助备用区，并从测试盘中产生测试信息；和

将从测试基准信息中得到的基准信息与测试信息相比较，以提供对测试信息的检验结果。

2、如权利要求1所述的方法，其中所述测试基准信息是镜像文件。

3、如权利要求2所述的方法，其中，所述测试基准信息具有被设置成表示次备用区为满的值的备用区满标记。

4、如权利要求3所述的方法，其中所述测试信息是镜像文件。

5、如权利要求3所述的方法，其中所述测试信息是直接从测试盘上的DMA读取的。

6、如权利要求5所述的方法，其中所述比较步骤包括：

检验所述测试信息中DMA的结构；

检验所述测试信息的盘定义结构(DDS)；

检验所述测试信息的主缺陷列表(PDL)结构；和

检验所述测试信息的次缺陷列表(SDL)结构。

7、如权利要求6所述的方法，其中检验DMA结构的步骤包括：

检查4个DMA，即写入测试盘4个位置的DMA中的任意一个中是否存在差错，其中的两个位于测试盘导入区，而另两个位于导出区；

检查4个DDS中和4个SDL中的DDS/PDL更新计数器的值是否为“先前值”，表示DDS/PDL更新计数器在扩展辅助备用区之前和之后的差值的DDS/PDL更新计数器增量是否为“1”，并且DDS/PDL更新计数器的值是否相同；

检查4个SDL中SDL更新计数器的值是否为“先前值”，表示SDL更新计数器在扩展辅助备用区之前和之后的差值的SDL更新计数器增量是否为“1”，并且SDL更新计数器的值是否相同；和

检查4个DMA的内容是否相同。

8、如权利要求6所述的方法，其中检验DDS的步骤包括：

检查DDS标识符是否为预定值；

检查盘认证标记中表示在进程中的比特的值是否为“0b”，并且表示盘制造商认证的比特的值和表示用户认证的比特的值是否为“1b”；

检查DDS/PDL更新计数器的值是否为“先前值”，表示DDS/PDL更新计数器在扩展辅助备用区之前和之后的差值的DDS/PDL更新计数器增量是否为“1”；

检查组数是否为预定值；

检查区域数是否为预定值；

分别检查主备用区的第一和最后扇区号是否为预定的扇区号；

检查是否根据PDL中登记的缺陷数来确定第一逻辑扇区号的位置；和

检查是否根据PDL中登记的缺陷数来确定每个区域的开始逻辑扇区号。

9、如权利要求6所述的方法，其中检验PDL结构的步骤包括：

检查PDL标识符是否为预定值；

检查PDL中的项目数是否与测试基准信息的PDL中登记的缺陷数相同；和

检查PDL项目的完整性中所包括的缺陷列表是否与测试基准信息中的相同。

10、如权利要求6所述的方法，其中检验SDL结构的步骤包括：

检查SDL标识符是否为预定值；

检查SDL更新计数器的值是否为“先前值”，表示SDL更新计数器在扩展辅助备用区之前和之后的差值的SDL更新计数器增量是否为“1”；

检查DDS/PDL更新计数器的值是否为“先前值”，表示DDS/PDL更新计数器在扩展辅助备用区之前和之后的差值的DDS/PDL更新计数器增量是否为“1”；

检查是否根据由用户指定的次备用区(SSA)的尺寸适当地设置了SSA的开始扇区号和逻辑扇区的总数；和

检查备用区满标记是否表示SSA为不满。

11、如权利要求1所述的方法，还包括将测试基准信息记录到空白盘上，以产生测试盘。

12、如权利要求11所述的方法，其中所述测试基准信息记录到空白盘上，而不管空白盘的物理条件如何。