[发明专利]减少气体中废气量的清洁装置无效

专利信息
申请号: 01110356.6 申请日: 2001-04-06
公开(公告)号: CN1378873A 公开(公告)日: 2002-11-13
发明(设计)人: 李世琛;杨宗正 申请(专利权)人: 华邦电子股份有限公司
主分类号: B01D53/74 分类号: B01D53/74;B01D53/70;F23G7/06
代理公司: 北京集佳专利商标事务所 代理人: 王学强
地址: 台湾新竹科*** 国省代码: 台湾;71
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摘要:
搜索关键词: 减少 气体 气量 清洁 装置
【权利要求书】:

1.一种气体的清洁装置,包括:

一气体注入管路,以提供气体进行处理;

一分解反应室,与该气体注入管路相连接,以使气体进行处理,所述气体会在该分解反应室中经过热处理分解成复数种副产物;

冷却装置,以冷却在分解反应中产生的这些副产物;

清洁装置,用以清除在分解反应中产生的这些副产物;

其特征在于:它还包括:

一传送装置以传送光线,安装在该气体注入管路上于该分解反应室前;

一激光元件,安装在分解反应室之前,借以产生一激光光束,经过该传送装置分解通过该气体注入管路的气体,产生复数个气体离子以引发分解反应。

2.根据权利要求1所述的气体清洁装置,其特征在于:它还包括安装有一多重反射镜子组,使该激光光束可以通过气体数次。

3.根据权利要求2所述的气体清洁装置,其特征在于:该气体注入管路的横切面面积为0.317平方厘米。

4.根据权利要求3所述的气体清洁装置,其特征在于:该气体注入管路的气体流量为16.7毫升/秒。

5.根据权利要求4所述的气体清洁装置,具特征在于:该激光的焦点约距该分解反应室50厘米。

6.根据权利要求5所述的气体清洁装置,其特征在于:该激光的脉冲为1微秒,该激光焦点的大小约为0.1-1毫米,且聚焦密度在百万瓦/平方厘米的等级中。

7.根据权利要求6所述的气体清洁装置,其特征在于:处理的气体为氟碳比合物气体。

8.根据权利要求7所述的气体清洁装置,其特征在于:在该分解反应室之前约有109摩尔/毫升的气体会被引发分解。

9.一种气体清洁装置,包括:

一气体注入管路,以提供气体进行处理;

一分解反应室,与该气体注入管路相连接,以使气体进行处理,所述气体会在该分解反应室中经过热处理分解成复数种副产物;

冷却装置,以冷却在分解反应中产生的这些副产物;

清洁装置,用以清除在分解反应中产生的这些副产物;

其特征在于:它还包括一微波发生器,安装在分解反应室之前,借以产生一微波辐射经过该气体注入管路的气体,产生复数种气体离子以引发分解反应。

10.一种气体清洁装置,包括:

一气体注入管路,以提供气体进行处理;

一分解反应室,与该气体注入管路相连接,以使气体进行处理,所述气体会在该分解反应室中经过热处理分解成复数种副产物;

冷却装置,以冷却在分解反应中产生的这些副产物;

清洁装置,用以清除在分解反应中产生的这些副产物;

其特征在于:它还包括一分解气体装置,安装在分解反应室之前,借以分解通过该气体注入管路的气体,产生复数个气体离子以引发分解反应。

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