[发明专利]半导体存储器元件测试结构及其装置和测试方法

权利要求书

1.一种半导体存储器元件测试结构，用以测试一半导体存储器元件，其特征在于所述结构包括

一微处理器，当接收到一测试启始信号后，输出一传送时钟信号至所述半导体存储器元件，借以使所述半导体存储器元件输出所储存的一储存信息信号至所述微处理器，其中当所述微处理器接收到所述储存信息信号时，对所述储存信息信号作一测试与比较操作的运算，并将运算的结果藉由一测试结果信号输出；以及

一结果排序与显示装置，用以输出所述测试启始信号至所述微处理器，并接收所述测试结果信号，并对所述测试结果信号作一结果排序运算，借以显示所述半导体存储器元件所储存的信息是否正确。

2.根据权利要求1所述的半导体存储器元件测试结构，其特征在于所述微处理器为具有接收串行形式的信息，并对所述信息施以所述测试与比较操作的运算。

3.根据权利要求2所述的半导体存储器元件测试结构，其中所述微处理器为一8501集成电路。

4.一种半导体存储器元件测试装置，用以测试一半导体存储器元件，其特征在于所述装置包括

一微处理器，当接收到一测试启始信号后，输出一传送时钟信号至所述半导体存储器元件，借以使所述半导体存储器元件输出所储存的一储存信息信号串行地传送至所述微处理器，其中当所述微处理器串行地接收到所述储存信息信号时，直接对所述储存信息信号作一测试与比较操作的运算，并将运算的结果借由一测试结果信号输出；以及

一结果排序与显示装置，用以输出所述测试启始信号至所述微处理器，并接收所述测试结果信号，并对所述测试结果信号作一结果排序运算，借以显示所述半导体存储器元件所储存的信息是否正确。

5.根据权利要求4所述的半导体存储器元件测试装置，其特征在于所述微处理器为一8501集成电路。

6.一种半导体存储器元件测试方法，用以测试一半导体存储器元件，其特征在于所述方法包括下列步骤：

传送一传送时钟信号至所述半导体存储器元件；

当所述半导体存储器元件接收到所述传送时钟信号后，串行地输出一储存信息信号；

直接对所述串行形式的储存信息信号做一测试与比较的运算，并将运算的结果借由一测试结果信号输出；以及

对所述测试结果信号做一结果排序运算，借以显示所述半导体存储器元件所储存的信息是否正确。