[发明专利]电光装置、其时钟信号调整方法和电路、其生产方法有效
申请号: | 00135240.7 | 申请日: | 2000-12-08 |
公开(公告)号: | CN1299124A | 公开(公告)日: | 2001-06-13 |
发明(设计)人: | 藤田伸;小泽德郎 | 申请(专利权)人: | 精工爱普生株式会社 |
主分类号: | G09G3/36 | 分类号: | G09G3/36 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人: | 杨凯,叶恺东 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 电光 装置 时钟 信号 调整 方法 电路 生产 | ||
本发明涉及误操作少的电光装置、其时钟信号调整方法、其时钟信号调整电路、其生产方法以及使用了电光装置的电子装置。
现有的电光装置、例如有源矩阵方式的液晶显示装置,主要由对于以矩阵状排列的像素电极的每一个设置了开关元件的元件基板、形成了滤色片等的对置基板和被充填在该两基板之间的液晶构成。在这样的结构中,如果经扫描线对开关元件施加扫描信号,则该开关元件成为导通状态。在该导通状态时,如果经数据线对像素电极施加图像信号,则在该像素电极与对置电极(共用电极)之间的液晶层中蓄积规定的电荷。在电荷蓄积后,即使使该开关元件处于关断状态,如果液晶层的电阻足够高,则也可维持该液晶层中的电荷的蓄积。这样,如果驱动各开关元件来控制被蓄积的电荷的量,则在每个像素中液晶的取向状态变化,可显示规定的信息。
此时,由于在各像素的液晶层中使电荷蓄积只要一部分的时间即可,故利用下述的结构,可实现关于多个像素对扫描线和数据线进行共用化的时分割多路驱动,在该结构中,第1,利用扫描线驱动电路依次选择各扫描线,同时,第2,在扫描线的选择期间中,利用数据线驱动电路依次选择1条或多条数据线,第3,对图像信号进行取样来供给已被选择的数据线。
在此,扫描线驱动电路或数据线驱动电路,一般来说分别由移位寄存器电路构成,成为下述的结构:根据由这些各移位寄存器电路传送的信号,扫描线驱动电路进行垂直扫描,另一方面,数据线驱动电路进行水平扫描。
但是,在上述的元件基板上,除了由扫描线、数据线和开关元件构成的图像显示区域外,还有形成扫描线驱动电路及数据线驱动电路的情况。在这样的情况下,作为构成扫描线驱动电路及数据线驱动电路的有源元件,大多使用薄膜晶体管(以下,称为「TFT」)。
在此,TFT的阈值电压因形成TFT的工艺的缘故而有离散性。特别是,在使用玻璃基板作为元件基板的情况下,离散性较大。
另一方面,各移位寄存器电路中,将定时倒相器和锁存电路作为单位电路,移位寄存器电路由串联连接若干级的该单位电路而构成,按照由定时倒相器供给的时钟信号和反转时钟信号依次对开始脉冲进行移位。
但是,如上所述,在构成各移位寄存器电路的TFT的阈值电压中有离散性。因此,如果该阈值电压值偏离设计值,则根据其偏离的程度,各移位寄存器电路发生误操作。此外,由于根据TFT的导通电流的情况,TFT的工作速度不同,故如果导通电流偏离设计值,则根据其偏离的程度,各移位寄存器电路发生误操作。
在这样的情况下,尽管对于图像显示区域来说能正常地工作,但作为液晶面板的整体来说不得不作为不合格品来处理。因此,存在液晶面板的成品率恶化的问题。
本发明是鉴于上述的情况而进行的,其目的在于提供能防止移位寄存器的误操作的时钟信号调整方法、时钟信号调整电路和应用了该方法和电路的电光装置、电子装置。此外,另一目的在于提供在生产电光装置时能使成品率提高的电光装置的生产方法。
本发明的电光装置的时钟信号调整方法以下述情况为前提,上述调整方法被用于下述的电光装置,上述电光装置具备显示部和移位寄存器,上述显示部具有多条扫描线、多条数据线和对应于这些线的各交点被设置的像素,上述移位寄存器按照时钟信号和反转时钟信号依次对开始脉冲进行移位,上述电光装置根据上述移位寄存器的各输出信号生成供给上述多条扫描线或上述多条数据线的各信号,上述调整方法调整供给上述移位寄存器的上述时钟信号和上述反转时钟信号的相位,而且,本发明的特征在于:检测构成上述移位寄存器的晶体管的阈值电压,根据已被检测的阈值电压,调整上述时钟信号与上述反转时钟信号的相对的相位。
在构成移位寄存器的晶体管中,根据时钟信号和反转时钟信号来控制其通断。晶体管处于导通状态或处于关断状态,是由该晶体管的阈值电压和供给该控制端子的电压来决定的。如果假定阈值电压比目标值大或小,则该晶体管的通断的切换时序就偏离预定的时序。即使在这样的情况下,由于根据晶体管的阈值电压来调整时钟信号与上述反转时钟信号的相对的相位,故本发明也可使移位寄存器正常地工作。
在此,较为理想的是,在检测上述晶体管的阈值电压的工序中,测量用与上述移位寄存器的晶体管相同的制造工艺制成的试验用晶体管的阈值电压,利用上述测量结果检测上述晶体管的阈值电压。因为在用相同的制造工艺制成的晶体管中,阈值电压相等,故通过测量试验用晶体管的阈值电压,可知道构成移位寄存器的晶体管的阈值电压。按照本发明,由于可不直接测量构成移位寄存器的晶体管的阈值电压,故如果预先以容易测量的方式来配置试验用晶体管,则可简易地检测阈值电压。
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