[发明专利]电光装置、其时钟信号调整方法和电路、其生产方法有效
| 申请号: | 00135240.7 | 申请日: | 2000-12-08 |
| 公开(公告)号: | CN1299124A | 公开(公告)日: | 2001-06-13 |
| 发明(设计)人: | 藤田伸;小泽德郎 | 申请(专利权)人: | 精工爱普生株式会社 |
| 主分类号: | G09G3/36 | 分类号: | G09G3/36 |
| 代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人: | 杨凯,叶恺东 |
| 地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 电光 装置 时钟 信号 调整 方法 电路 生产 | ||
1.一种电光装置的时钟信号调整方法,上述调整方法被用于下述的电光装置,上述电光装置具备显示部和移位寄存器,上述显示部具有多条扫描线、多条数据线和对应于这些线的各交点被设置的像素,上述移位寄存器按照时钟信号和反转时钟信号依次对开始脉冲进行移位,上述电光装置根据上述移位寄存器的各输出信号生成供给上述多条扫描线或上述多条数据线的各信号,上述调整方法调整供给上述移位寄存器的上述时钟信号和上述反转时钟信号的相位,其特征在于:
检测构成上述移位寄存器的晶体管的阈值电压,
根据已被检测的阈值电压,调整上述时钟信号与上述反转时钟信号的相对的相位。
2.如权利要求1中所述的电光装置的时钟信号调整方法,其特征在于:
在检测上述晶体管的阈值电压的工序中,测量用与上述移位寄存器的晶体管相同的制造工艺制成的试验用晶体管的阈值电压,利用上述测量结果检测上述晶体管的阈值电压。
3.如权利要求1中所述的电光装置的时钟信号调整方法,其特征在于:
构成上述移位寄存器的晶体管是P沟道型TFT和N沟道型TFT,
在测量上述阈值电压的工序中,测量上述P沟道型TFT的第1阈值电压和上述N沟道型TFT的第2阈值电压,
在调整上述相位的工序中,根据上述第1阈值电压和上述第2阈值电压,调整上述时钟信号和上述反转时钟信号的相位。
4.如权利要求3中所述的电光装置的时钟信号调整方法,其特征在于:
在调整上述相位的工序中,根据上述第1阈值电压,调整上述时钟信号的上升沿与上述反转时钟信号的下降沿的相对的相位。
5.如权利要求4中所述的电光装置的时钟信号调整方法,其特征在于:
在调整上述相位的工序中,根据上述第2阈值电压,调整上述时钟信号的下降沿与上述反转时钟信号的上升沿的相对的相位。
6.一种电光装置的时钟信号调整方法,上述调整方法被用于下述的电光装置,上述电光装置具备显示部和移位寄存器,上述显示部具有多条扫描线、多条数据线和对应于这些线的各交点被设置的像素,上述移位寄存器按照时钟信号和反转时钟信号依次对开始脉冲进行移位,上述电光装置根据上述移位寄存器的各输出信号生成供给上述多条扫描线或上述多条数据线的各信号,上述调整方法调整供给上述移位寄存器的上述时钟信号和上述反转时钟信号的相位,其特征在于:
检测构成上述移位寄存器的晶体管的阈值电压和导通电流,
根据已被检测的阈值电压和导通电流,调整上述时钟信号与上述反转时钟信号的相对的相位。
7.如权利要求6中所述的电光装置的时钟信号调整方法,其特征在于:
在检测上述晶体管的阈值电压和导通电流的工序中,测量用与上述移位寄存器的晶体管相同的制造工艺制成的试验用晶体管的阈值电压和导通电流,利用上述测量结果检测上述晶体管的阈值电压和导通电流。
8.如权利要求6中所述的电光装置的时钟信号调整方法,其特征在于:
构成上述移位寄存器的晶体管是P沟道型TFT和N沟道型TFT,
在测量上述阈值电压的工序中,测量上述P沟道型TFT的第1阈值电压和第1导通电流以及上述N沟道型TFT的第2阈值电压和第2导通电流,
在调整上述相位的工序中,根据上述第1阈值电压和第1导通电流以及上述第2阈值电压和第2导通电流,调整上述时钟信号和上述反转时钟信号的相位。
9.如权利要求8中所述的电光装置的时钟信号调整方法,其特征在于:
在调整上述相位的工序中,根据上述第1阈值电压和上述第1导通电流,调整上述时钟信号的上升沿与上述反转时钟信号的下降沿的相对的相位。
10.如权利要求8中所述的电光装置的时钟信号调整方法,其特征在于:
在调整上述相位的工序中,根据上述第2阈值电压和上述第2导通电流,调整上述时钟信号的下降沿与上述反转时钟信号的上升沿的相对的相位。
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