[发明专利]梯度磁场测量方法和MRI装置

说明书

本发明涉及一种梯度磁场测量方法和MRI(磁共振成像)装置，更具体地说，涉及一种能够精确地测量实际施加的梯度磁场的梯度磁场测量方法和MRI装置。

附图1所示为解释在题为“Novel k-space Trajectory MeasurementTechnique”(Zhang等人的，在Magnetic Resonance in Medicine,39:999-1004(1998)上)的文章中所公开的梯度磁场测量方法中应用的梯度磁场测量脉冲序列的附图。

梯度磁场测量脉冲序列J施加激励RF脉冲R和片层选择脉冲G_s，施加复相脉冲G_r，并在施加具有螺旋梯度波形的编码脉冲G_e的同时从FID信号中采集数据S(1)-S(T)。

接着，从所采集到的数据S(1)-S(T)中得到具有角度相位差Δφ的数据D(1)-D(T-1)。具体地说进行如下的计算：

D(t)=S(t)·S(t+1)^*

这里S(t+1)^*表示S(t+1)的共轭复数。

然后，从具有角度相位差Δφ的数据D(1)-D(T-1)中得出梯度磁场差ΔG(1)-ΔG(T-1)。具体地说进行如下的计算： ΔG ( t ) = arctan { D ( t ) } 2 π · γ · z · Δt ]]>

这里arctan{}表示反正切函数，γ是旋磁比，z是在梯度轴上的片层位置，Δt是在数据S(t)和S(t+1)之间的时间差。

接着累计梯度磁场差ΔG(1)-ΔG(T-1)得到梯度磁场G(1)-G(T-1)。具体地说进行如下的计算： G ( τ ) = Σ t = 1 τ ΔG ( t ) ]]>

应用梯度磁场测量结果来校正编码脉冲G_e。此外，它还可以用于分析涡流或剩磁。

理想地，关于附图1所示的编码脉冲G_e的梯度磁场测量的结果如附图2所示。

然而，在实际中并不能得到这种如附图2所示的无干扰的结果。尤其是在附图2中虚线所示的后部将产生随机性。这是因为更大的编码脉冲将增加在试样内的梯度磁场强度的差值，导致了所看到的由在试样内产生的相移引起的FID信号的降低。附图3所示为FID信号的时间变化。基本上FID信号以指数规律随时间降低，但是由于在试样内产生的相移的影响导致出现了许多更为小的极小部分。

本发明的一个目的是提供一种能够精确地测量实际所施加的梯度磁场的梯度磁场测量方法和MRI装置。