[发明专利]测距装置

说明书

本发明涉及例如银盐照相机或数码相机、摄像机等摄像装置使用的测距装置，特别是实现对摄影画面内的多个地方的被摄体距离进行测距的所谓多点自动调焦(以下，称为多点AF)的测距装置，尤其是以在全画面AF等的多点AF中也具有宽范围的测距区域为特征的测距装置。

现在，在照相机等摄像装置中，通常是用测距装置来实施多点AF的。另外，搭载对摄影画面内的3点或5点、7点的被摄体距离进行测距的测距装置的照相机，也以低价格机种产品化了。

上述多点AF，是将测距区域品质在直线上的一维多点AF，但是，最近，二维多点AF、区域AF的产品化的征兆已见端倪。

试举一例，例如，如图32所示，对于取景器16，搭载了具有设置45点的测距区域17的区域AF功能的测距装置的照相机已产品化了，并且，现在也已上市。

在关于这种先有技术的多点AF中，鉴于如增加测距区域数那样的测距计算一样必须反复进行复杂的运算，已提案了用于改善那样的时间延迟的各种发明。

例如，在特开平2-158705号公报中，公开了以首先用不是高精度地粗测被摄体的多个等方的第1测距模式取得多个被摄体举例信息、从中选择表示相当最接近距离的被摄体距离的被摄体、通过用高精度的第2测距模式仅对所选择的被摄体进行测距来改善上述时间延迟为特征的技术。

此外，在特开昭63-131019号公报中，公开了用主动方式的AF、以推断在投射光线的反射光量最多的地方存在最接近的主要被摄体为基本概念、通过对反射光量少的部分省去测距运算来改善上述时间延迟的技术。

但是，上述先有技术的AF方式都采用了主动方式，所以，在时间延迟对策方面，可以获得很高的效果，但是，如果想实施全画面AF等，投光元件的聚集及受光元件的聚集将不可避免地巨大化，从而成为向实用化迈进的巨大障碍。

与此相反，如果是被动方式，受光元件的微细化远远比主动方式的投光受光元件的微细化进步，不存在向上述实用化迈进的障碍，所以，不论从哪一方面说，对于全画面AF等的宽范围多点AF，都可以说被动方式是最好的。

有鉴于此，在特开昭62-103615号公报中，公开了以对多个测距区域进行粗相关运算、根据该结果选择1个测距区域、仅对该选择的测距区域进行高精度的相关运算、在被动方式下改善时间延迟为特征的技术。

但是，虽说是粗的相关运算，也是将运算使用的传感器数据每隔1个采用1个等，该方法就是间抽传感器数据，并不是可以省略相关运算。因此，时间延迟对策的效率，虽然主动方式高于被动方式，但是可以说是同等的。

这里，不论被动方式还是主动方式，对全画面AF等那样的宽范围多点AF都是适合的，但是，最近，又提案并采用了称为混合方式的测距方式。所谓混合方式，就是为了对各受光元件除去恒定光，将恒定光除去电路附加到被动方式的传感器上，如果使恒定光除去功能无效，就进行被动动作，如果使恒定光除去功能有效，就进行主动动作。关于恒定光除去电路，已在特愿平10-336921号公报中公开了。另外，搭载混合方式AF的产品也已面世。

但是，要想实施全画面AF等宽范围多点AF，时间延迟对策是必须条件，但是，在先有技术中，现在还不存在具有有效的测距方式还时间延迟对策。现在，还是采用牺牲成本、搭载高速动作的高价的CPU及微处理器的结构的时间延迟对策。因此，先有技术的测距装置，时间延迟对策不充分，存在时间延迟大的缺点。

本发明就是鉴于上述问题而提案的，目的旨在提供时间延迟小、测距迅速、测距结果的可靠性高、不提高成本就可以实现的高精度的测距装置。

为了达到上述目的，在本发明的实施例1中提供的测距装置的特征在于：具有接收被摄体的光从而得到被摄体像信号的至少一对积分型受光传感器、向被摄体投射光的投光部、在由上述投光部向上述被摄体投射光的状态下得到从上述一对积分型受光传感器的被摄体像信号中除去恒定光成分的像信号的恒定光除去部、根据由上述恒定光除去部从上述被摄体像信号中除去恒定光成分的像信号对被摄体距离进行测距的第1测距部、使上述第1测距部的测距动作经过指定时间并设定与包含由此而得到的反射信号成分的积分信号中的最大成分值的指定积分值范围内对应的检测区域的检测区域设定部和在上述投光部不向上述被摄体投射光的状态下根据上述一对积分型受光传感器的被摄体像信号和根据对由上述检测区域设定部设定的检测区域的上述积分型受光传感器的积分结果对被摄体距离进行测距的第2测距部。