[发明专利]测距装置无效

专利信息
申请号: 00117940.3 申请日: 2000-06-01
公开(公告)号: CN1275724A 公开(公告)日: 2000-12-06
发明(设计)人: 中田康一;金田一刚史 申请(专利权)人: 奥林巴斯光学工业株式会社
主分类号: G03B13/18 分类号: G03B13/18
代理公司: 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 代理人: 于静
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 测距 装置
【权利要求书】:

1.一种测距装置,其特征在于:具有

接收被摄体的光从而得到被摄体像信号的至少一对积分型受光传感器(4a、4b);

向被摄体投射光的投光部(1c、14、15);

在由上述投光部向上述被摄体投射光的状态下,得到从上述一对积分型受光传感器的被摄体像信号中除去恒定光成分的像信号的恒定光除去部(6);

根据由上述恒定光除去部从上述被摄体像信号中除去恒定光成分的像信号对被摄体距离进行测距的第1测距部(5、9、10、11、13);

使上述第1测距部的测距动作经过指定时间,并设定与包含由此而得到的反射信号成分的积分信号中的最大成分值的指定积分值范围内对应的检测区域的检测区域设定部(8、11),和

在上述投光部不向上述被摄体投射光的状态下,根据上述一对积分型受光传感器的被摄体像信号和根据对由上述检测区域设定部设定的检测区域的上述积分型受光传感器的积分结果,对被摄体距离进行测距的第2测距部(5、9、10、11、13)。

2.按权利要求1所述的测距装置,其特征在于:指定上述检测区域时使用的指定积分值的值根据最大积分值而变化。

3.一种测距装置,其特征在于:具有

接收被摄体的光从而得到被摄体像信号的至少由第1传感器和第2传感器构成的一对积分型受光传感器(4a、4b);

向被摄体投射光的投光部(1c、14、15);

在由上述投光部向上述被摄体投射光的状态下,得到从上述一端积分型受光传感器的被摄体像信号中除去恒定光成分的像信号的恒定光除去部(6);

根据由上述恒定光除去部从上述被摄体像信号中除去恒定光成分的像信号对被摄体距离进行测距的第1测距部(5、9、10、11、13);

使上述第1测距部的测距动作经过指定时间,并设定与包含由此而得到的反射信号成分的积分信号中的最大成分值的指定积分值范围内对应的第1传感器的检测区域,同时将同与第1传感器的检测区域对应的区域偏离指定量的区域设定为第2传感器的检测区域的检测区域设定部(8、11),和

在上述投光部不向上述被摄体投射光的状态下,根据上述一对积分型受光传感器的被摄体像信号,和根据由上述检测区域设定部设定的第1传感器的检测区域和第1传感器的检测区域的积分结果,对被摄体距离进行测距的第2测距部(5、9、10、11、13)。

4.按权利要求3所述的测距装置,其特征在于:在比与上述第1传感器的检测区域对应的区域偏离指定量的区域设定第2传感器的检测区域时使用的指定量根据最大积分值而变化。

5.按权利要求3所述的测距装置,其特征在于:最大积分值越大,在比与上述第1传感器的检测区域对应的区域偏离指定量的区域设定第2传感器的检测区域时使用的指定量也越大。

6.一种测距装置,其特征在于:具有

接收被摄体的光从而得到被摄体像信号的至少由第1传感器和第2传感器构成的一对积分型受光传感器(4a、4b);

向被摄体投射光的投光部(1c、14、15);

在由上述投光部向上述被摄体投射光的状态下,得到从上述一端积分型受光传感器的被摄体像信号中除去恒定光成分的像信号的恒定光除去部(6);

根据由上述恒定光除去部从上述被摄体像信号中除去恒定光成分的像信号对被摄体距离进行测距的第1测距部(5、9、10、11、13);

使上述第1测距部的测距动作经过指定时间,并设定与包含由此而得到的反射信号成分的积分信号中的最大成分值的指定积分值范围内对应的第1传感器的检测区域,同时将同与第1传感器的检测开始地址对应的地址偏离指定量的地址设定为第2传感器的检测开始地址,进而将从第2传感器的检测开始地址开始的指定量的范围设定为第2传感器的检测区域的检测区域设定部(8、11),和

在上述投光部不向上述被摄体投射光的状态下,根据上述一对积分型受光传感器的被摄体像信号和根据由上述检测区域设定部设定的第1传感器的检测区域和第1传感器的检测区域的积分结果,对被摄体距离进行测距的第2测距部(5、9、10、11、13)。

7.按权利要求6所述的测距装置,其特征在于:在从上述第2传感器的检测开始地址开始的指定量范围内设定第2传感器的检测区域时使用的指定量范围根据最大积分值而变化。

8.按权利要求6所述的测距装置,其特征在于:最大积分值越大,在从上述第2传感器的检测开始地址开始的指定量范围内设定第2传感器的检测区域时使用的指定量范围也越大。

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